| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung offenbart ein neues Verfahren zum Bestimmen der Lage von Einschlüssen in einem Edelstein. Das Verfahren weist das Einfügen eines Edelsteins in eine brechungsfreie Umgebung sowie das Bestrahlen des Edelsteins auf, so daß der Edelstein für die Strahlungswellen zumindest teilweise transparent ist und die Einschlüsse eine ungebeugte Abbildung auf einem Detektor erzeugen. Die vorliegende Erfindung stellt ebenfalls eine kosteneffektive Vorrichtung zum Lokalisieren von Einschlüssen dar, welche adaptiert ist, die mehrdimensionale Lage von Einschlüssen in einen Edelstein zu bestimmen und folgendes aufweist: eine Einrichtung zum Einfügen eines Edelsteins in eine brechungsfreie Umgebung; eine Einrichtung zum Bestrahlen des Edelsteins und eine Einrichtung zum Analysieren der durch die Strahlung, welche durch den Edelstein verläuft, erzeugten Abbildungen, so daß der Edelstein für die Strahlungswellen zumindest teilweise transparent ist und die Einschlüsse eine Abbildung auf einem Detektor erzeugen.
|
