Self test circuit of semiconductor memory,申请号KR20000050491-传众专利搜索

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发明名称	Self test circuit of semiconductor memory
摘要
申请公布号	KR100690995(B1)	申请公布日期	2007.03.08
申请号	KR20000050491	申请日期	2000.08.29
申请人		发明人
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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