发明名称 Polierzusammensetzung und Polierverfahren
摘要 Eine erste Polierzusammensetzung schließt Schleifkörner und eine Iodverbindung ein und weist einen pH von 6 oder mehr auf. Die erste Polierzusammensetzung kann in geeigneter Weise die Si [001] Ebene eines Siliciumcarbideinkristall-Substrates polieren. Eine zweite Polierzusammensetzung schließt eine Iodverbindung ein und weist einen pH von 8 oder weniger auf. Die zweite Polierzusammensetzung kann in geeigneter Weise die C [000-1] Ebene eines Siliciumcarbideinkristall-Substrates polieren. Eine dritte Polierzusammensetzung schließt Schleifkörner und eine Iodverbindung ein und weist einen pH von 6 bis 8 auf, jeweils eingeschlossen. Die dritte Polierzusammensetzung kann in geeigneter Weise jede der Si [0001] und C [000-1] Ebenen eines Siliciumcarbideinkristall-Substrates polieren.
申请公布号 DE102006033919(A1) 申请公布日期 2007.03.08
申请号 DE200610033919 申请日期 2006.07.21
申请人 FUJIMI INCORPORATED 发明人 KAWATA, KENJI;HOTTA, KAZUTOSHI
分类号 C09G1/02;B24B37/00;C30B29/36;C30B33/00;H01L21/461 主分类号 C09G1/02
代理机构 代理人
主权项
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