发明名称 |
Polierzusammensetzung und Polierverfahren |
摘要 |
Eine erste Polierzusammensetzung schließt Schleifkörner und eine Iodverbindung ein und weist einen pH von 6 oder mehr auf. Die erste Polierzusammensetzung kann in geeigneter Weise die Si [001] Ebene eines Siliciumcarbideinkristall-Substrates polieren. Eine zweite Polierzusammensetzung schließt eine Iodverbindung ein und weist einen pH von 8 oder weniger auf. Die zweite Polierzusammensetzung kann in geeigneter Weise die C [000-1] Ebene eines Siliciumcarbideinkristall-Substrates polieren. Eine dritte Polierzusammensetzung schließt Schleifkörner und eine Iodverbindung ein und weist einen pH von 6 bis 8 auf, jeweils eingeschlossen. Die dritte Polierzusammensetzung kann in geeigneter Weise jede der Si [0001] und C [000-1] Ebenen eines Siliciumcarbideinkristall-Substrates polieren.
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申请公布号 |
DE102006033919(A1) |
申请公布日期 |
2007.03.08 |
申请号 |
DE200610033919 |
申请日期 |
2006.07.21 |
申请人 |
FUJIMI INCORPORATED |
发明人 |
KAWATA, KENJI;HOTTA, KAZUTOSHI |
分类号 |
C09G1/02;B24B37/00;C30B29/36;C30B33/00;H01L21/461 |
主分类号 |
C09G1/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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