摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Erfassen von elektrischen und/oder magnetischen Eigenschaften eines elektrisch leitfähigen Prüf gegenstands (32) . Die Vorrichtung um- fasst wenigstens zwei Eingangsklemmen (10, 12), die zum Anlegen einer Versorgungsspannung vorgesehen sind, und wenigstens zwei Induktivitäten (14, 16, 18, 20), die nach einem vorbestimmten Schema miteinander verschaltet und zwischen den Eingangsklemmen (10, 12) geschaltet sind. Weiterhin umfasst die Vorrichtung wenigstens zwei Ausgangsklemmen (22, 24), die zum Abgreifen einer Spannung vorgesehen und jeweils mit wenigstens einer Induktivität (14, 16, 18, 20) gekoppelt sind, und wenigstens ein Basisteil (30), auf dem die Induktivitäten (14, 16, 18, 20) nach einem vorbestimmten Schema angeordnet sind. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass die Vorrichtung wenigstens ein Referenzelement (26, 28) aufweist, das wenigstens einer Induktivität (14, 16, 18, 20) zugeordnet und auf dem Basisteil (30) angeordnet ist.
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