| 发明名称 |
Kombinierter Integrierter Speicher- und Logikschaltkreis und Testverfahren hierfür |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE19807739(B4) |
申请公布日期 |
2007.03.08 |
| 申请号 |
DE19981007739 |
申请日期 |
1998.02.24 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD. |
发明人 |
GYU-HONG, KIM |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/27;G06F11/22;G11C11/401;G11C11/407;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/48;H01L21/822;H01L27/04 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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