| 发明名称 | 用于对自定时半导体存储器施加压力以检测延迟故障的DFT技术 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种设置在自定时存储器的时钟监控器(152)与内部存储器模块(125)之间的测试系统(100)。在一个实施方案中，测试系统(100)接收来自时钟监控器(152)的内部时钟信号(104)、外部时钟信号(CL)和控制信号(CS)。在自定时存储器的正常模式操作过程中，测试系统的多路复用器(110)根据控制信号(CS)为内部存储器模块(125)提供内部时钟信号(104)，在自定时存储器的测试模式(108)过程中为内部存储器模块(125)提供外部时钟信号(CL)。通过在测试模式过程中直接施加外部时钟信号(CL)，测试系统(100)能控制内部存储器模块(125)的时钟周期。因而，适当地为内部存储器模块施加压力能够检测较小的延迟故障。 | ||
| 申请公布号 | CN1926638A | 申请公布日期 | 2007.03.07 |
| 申请号 | CN200580006885.5 | 申请日期 | 2005.03.03 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | M·阿齐曼;A·马希 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 顾珊;张志醒 |
| 主权项 | 1.一种用于为自定时存储器的内部存储器模块提供外部时钟信号的方法(700)，包括：从自定时存储器的时钟监控器接收(710)内部时钟信号；接收(720)外部时钟信号；接收(730)控制信号；根据控制信号(740)，在自定时存储器的正常模式操作(750)过程中为内部存储器模块提供所述内部时钟信号，并在自定时存储器的测试模式(760)过程中为内部存储器模块提供所述外部时钟信号。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||