发明名称 高密度光盘厚度判别方法
摘要 一种高密度光盘厚度判别方法,利用了聚焦差原理,通过聚焦方式判别的,包括:移动物镜,调节其和光盘间距离,使其出现聚焦差,检测光检测器上聚集的第1光点位于焦点位置;按照检测到的焦点,利用第1光点测定S-曲线拾取值的位置,将其设定为基准值;放置具有规定厚度光盘;利用和所放置光盘间距离,使其出现聚焦差,检测被聚焦在光检测器上第2光点;利用检测的第2光点测定S-曲线拾取值位置及沸点旋转方向;将检测的第1光点S-曲线拾取值的位置和设定为基准值的第2光点S-曲线拾取值的位置进行比较,测出两个拾取值位置间变化差;按照测定的沸点的旋转方向,找出光盘厚度差变化;利用检测的旋转方向和位置变化差,检测光盘的厚度差。
申请公布号 CN1925016A 申请公布日期 2007.03.07
申请号 CN200510029240.5 申请日期 2005.08.31
申请人 上海乐金广电电子有限公司 发明人 金哲敏
分类号 G11B7/00(2006.01);G11B19/12(2006.01) 主分类号 G11B7/00(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 王月珍
主权项 1、一种高密度光盘厚度判别方法,其特征在于共包括八个步骤:一是移动物镜,调节其和光盘间的距离,在使其出现聚焦差,检测光检测器上聚集的第1光点位于焦点位置的步骤;二是按照检测到的焦点,利用第1光点测定S-曲线拾取值的位置,将其设定为基准值的步骤;三是放置具有规定厚度光盘的步骤;四是利用和所放置光盘间的距离,使其出现聚焦差,检测被聚焦在光检测器上第2光点的步骤;五是利用检测的第2光点测定S-曲线拾取值位置及沸点旋转方向的步骤;六是将检测的第1光点S-曲线拾取值的位置和设定为基准值的第2光点S-曲线拾取值的位置进行比较,测出两个拾取值位置间变化差的步骤;七是按照测定的沸点的旋转方向,找出光盘厚度差变化的步骤;八是利用检测的旋转方向和位置变化差,检测出光盘的厚度差。
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