发明名称 |
高密度光盘厚度判别方法 |
摘要 |
一种高密度光盘厚度判别方法,利用了聚焦差原理,通过聚焦方式判别的,包括:移动物镜,调节其和光盘间距离,使其出现聚焦差,检测光检测器上聚集的第1光点位于焦点位置;按照检测到的焦点,利用第1光点测定S-曲线拾取值的位置,将其设定为基准值;放置具有规定厚度光盘;利用和所放置光盘间距离,使其出现聚焦差,检测被聚焦在光检测器上第2光点;利用检测的第2光点测定S-曲线拾取值位置及沸点旋转方向;将检测的第1光点S-曲线拾取值的位置和设定为基准值的第2光点S-曲线拾取值的位置进行比较,测出两个拾取值位置间变化差;按照测定的沸点的旋转方向,找出光盘厚度差变化;利用检测的旋转方向和位置变化差,检测光盘的厚度差。 |
申请公布号 |
CN1925016A |
申请公布日期 |
2007.03.07 |
申请号 |
CN200510029240.5 |
申请日期 |
2005.08.31 |
申请人 |
上海乐金广电电子有限公司 |
发明人 |
金哲敏 |
分类号 |
G11B7/00(2006.01);G11B19/12(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/00(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
王月珍 |
主权项 |
1、一种高密度光盘厚度判别方法,其特征在于共包括八个步骤:一是移动物镜,调节其和光盘间的距离,在使其出现聚焦差,检测光检测器上聚集的第1光点位于焦点位置的步骤;二是按照检测到的焦点,利用第1光点测定S-曲线拾取值的位置,将其设定为基准值的步骤;三是放置具有规定厚度光盘的步骤;四是利用和所放置光盘间的距离,使其出现聚焦差,检测被聚焦在光检测器上第2光点的步骤;五是利用检测的第2光点测定S-曲线拾取值位置及沸点旋转方向的步骤;六是将检测的第1光点S-曲线拾取值的位置和设定为基准值的第2光点S-曲线拾取值的位置进行比较,测出两个拾取值位置间变化差的步骤;七是按照测定的沸点的旋转方向,找出光盘厚度差变化的步骤;八是利用检测的旋转方向和位置变化差,检测出光盘的厚度差。 |
地址 |
201206上海市浦东新区金桥出口加工区云桥路600号 |