| 发明名称 |
PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE LOCALE DES CARACTERISTIQUES DE REFRACTION D'UNE LENTILLE EN UN OU PLUSIEURS POINTS SPECIFIQUES DE CETTE LENTILLE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2880118(B1) |
申请公布日期 |
2007.03.02 |
| 申请号 |
FR20040013877 |
申请日期 |
2004.12.23 |
| 申请人 |
ESSILOR INTERNATIONAL - COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE SOCIETE ANONYME |
发明人 |
DIVO FABIEN;THEPOT JAMES |
| 分类号 |
G01M11/02;G02B3/00;G02C7/02 |
主分类号 |
G01M11/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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