发明名称 元件识别方法、元件制造方法以及电子元件
摘要 本发明提供一种元件识别方法,为一用于识别电子元件的方法,此电子元件包括:正式动作时进行动作的正式动作电路、设置有多个测试用元件并在电子元件的测试时进行动作的测试用电路。此电子元件的元件识别方法包括:特性测定阶段,对多个测试用元件的电气特性进行测定;识别资讯存储阶段,将各个测试用元件的电气特性,作为电子元件的识别资讯以进行存储;识别资讯取得阶段,为了识别所需的电子元件,对该电子元件中所含有的多个测试用元件的电气特性进行测定,取得该电子元件的识别资讯;以及匹配阶段,对识别资讯取得阶段所取得的识别资讯,和识别资讯存储阶段所存储的识别资讯进行比较,并在识别资讯一致的情况下判定为相同的电子元件。
申请公布号 TW200708751 申请公布日期 2007.03.01
申请号 TW095130233 申请日期 2006.08.17
申请人 爱德万测试股份有限公司;国立大学法人东北大学 发明人 冈安俊幸;须川成利;寺本章伸
分类号 G01R31/26(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本