发明名称 频率合成装置
摘要 一种频率合成装置,包括一杂讯整型量化器和一数位控制震荡器。杂讯整型量化器系根据复数输入位元,对于量化转换所产生之误差信号进行整型,使得误差信号之多数发生高频。数位控制震荡器则耦接至杂讯整型量化器之输出,并据以产生一输出频率。根据本发明,杂讯整型量化器连同数位控制震荡器执行滤波功能,藉由快速改变量化数值间之频率,以降低一相位误差。
申请公布号 TWI275250 申请公布日期 2007.03.01
申请号 TW091134571 申请日期 2002.11.28
申请人 晨星半导体股份有限公司 发明人 史德立
分类号 H03L7/191(2006.01) 主分类号 H03L7/191(2006.01)
代理机构 代理人 王盛勇 台北市大安区复兴南路1段239号13楼
主权项 1.一种频率合成装置,包括: 一杂讯整型量化器,根据复数输入位元,对于量化 转换所产生之误差信号进行整型,使得该误差信号 之多数发生在高频;以及 一数位控制震荡器,耦接至该杂讯整型量化器之输 出,并据以产生一输出频率。 2.一种频率合成装置,包括: 一杂讯整型量化器,根据复数输入位元,对于量化 转换所产生之误差信号进行整型,使得该误差信号 之多数发生高频;以及 一数位控制震荡器,耦接至该杂讯整型量化器之输 出,并据以产生一输出频率; 其中,该杂讯整型量化器连同该数位控制震荡器执 行滤波功能,藉由快速改变量化数値间之频率,以 降低一相位误差。 3.一种频率合成装置,包括: 一粗/细分离器,用以分离复数输入位元成为供作 之粗控制位元和细控制位元; 一Delta-Sigma量化器,根据该细控制位元,对于量化转 换所产生之误差信号进行整型,使得该误差信号之 多数发生于高频; 一温度计编码器,耦接至该Delta-Sigma量化器之一输 出,对该等细控制位元进行编码;以及 一数位控制震荡器,根据该粗控制位元与该细控制 位元,产生一输出频率。 4.一种频率合成装置,包括: 一粗/细分离器,用以分离复数输入位元成为粗控 制位元和细控制位元; 一Delta-Sigma量化器,根据该细控制位元,对于量化转 换所产生之误差信号进行整型,使得该误差信号之 多数发生在高频; 一温度计编码器,耦接至该Delta-Sigma量化器之一输 出,对该细控制位元进行编码;以及 一数位控制震荡器,根据该粗控制位元与该细控制 位元,产生一输出频率; 其中,该Delta-Sigma量化器连同该数位控制震荡器执 行滤波功能,藉由改变量化数値间之频率,以降低 一相位误差。 5.一种数位控制震荡器之频率控制方法,包括下列 步骤: 将输入信号分离成粗控制位元和细控制位元; 根据该细控制位元,对误差信号进行杂讯整型量化 处理,使得该误差信号之多数发生在高频; 改变量化数値间之频率,以降低一相位误差;以及 以该粗控制位元和该细控制位元,控制一数位控制 震荡器产生所需之一输出频率。 6.如申请专利范围第5项所述之方法,尚包括产生复 数输出位元之步骤,该输出信号之位元数少于该输 入信号之位元数。 7.如申请专利范围第5项所述之方法,尚包括产生具 有一变动频率之一输出信号。 图式简单说明: 第一图系显示根据本发明一较佳实施例之方块图; 第二图系显示根据本发明另一较佳实施例之方块 图; 第三图系显示根据本发明之DCO电路方块图; 第四图系显示施加于第三图所示电路温度计编码 之一例;以及 第五图系显示本发明DCO延迟元件之方块图。
地址 新竹县竹北市台元街26号4楼之1