发明名称 利用红外光线检测铜箔基板胶化时间之检测系统以及方法
摘要 一种利用红外光线检测铜箔基板胶化时间之检测系统以及方法,先行取样复数个已知胶化时间之铜箔基板,接着发射红外光线以照射该复数个铜箔基板,并利用光感应装置以分别感应每一个铜箔基板于红外光线不同频率时之红外光线吸收度,再以红外光谱仪建立一光谱与其对应红外光线吸收度之特征函数。藉由一类神经网路针对一段特定频率,将该复数个铜箔基板之特征函数,以及该复数个铜箔基板之胶化时间,以对应出一胶化时间关系。之后,以红外光线照射一待测铜箔基板,根据所得之一组频率以及红外光线吸收度,透过类神经网路并根据胶化时间关系,对应出待测铜箔基板之胶化时间。
申请公布号 TWI274864 申请公布日期 2007.03.01
申请号 TW094133110 申请日期 2005.09.23
申请人 科迈斯科技股份有限公司 发明人 胡拯民
分类号 G01N21/35(2006.01) 主分类号 G01N21/35(2006.01)
代理机构 代理人 李长铭 台北市中山区南京东路2段53号9楼
主权项 1.一种利用红外光线检测铜箔基板胶化时间(gel time)之检测方法,系包含下列步骤: 取样复数个已知胶化时间之铜箔基板; 以该红外光线照射该复数个铜箔基板; 分别对每一个铜箔基板,撷取该铜箔基板于该红外 光线不同频率时之红外光线吸收度; 建立一光谱与其对应红外光线吸收度之特征函数; 于该特征函数中,撷取一段特定频率之特征函数; 以及 针对该段特定频率,将该复数个铜箔基板之特征函 数,以及该复数个铜箔基板之胶化时间,透过一类 神经网路,以对应出一胶化时间关系。 2.如申请专利范围第1项所述之检测方法,该检测方 法更包含下列步骤: 以该红外光线照射一待测铜箔基板; 撷取该待测铜箔基板于该红外光线不同频率时之 红外光线吸收度; 于该段特定频率中,输入所述待测铜箔基板之一组 频率以及红外光线吸收度于该类神经网路中;以及 透过该类神经网路,根据该胶化时间关系,对应出 该待测铜箔基板之胶化时间。 3.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该检 测方法更用以检测生产线上之铜箔基板,关于生产 线上铜箔基板之特性包含一物料特性参数以及一 环境操作参数,该物料特性参数系为该铜箔基板之 特性,该环境操作参数系生产该铜箔基板时所需之 环境条件,该检测方法更包含下列步骤: 取样复数个已知物料特性参数以及环境操作参数 之铜箔基板; 建立出该物料特性参数以及该环境操作参数;以及 将该复数组物料特性参数以及该环境操作参数,透 过该类神经网路,对应产生一物料生产关系。 4.如申请专利范围第3项所述之检测方法,该检测方 法更包含下列步骤: 输入该物料特性参数以及该环境操作参数中至少 一参数于该类神经网路中;以及 透过该类神经网路,根据该物料生产关系,对应出 该参数外之其他参数。 5.如申请专利范围第4项所述之检测方法,其中输入 该物料特性参数于该类神经网路中,后续透过该类 神经网路,根据该物料生产关系,系对应出该环境 操作参数。 6.如申请专利范围第3项所述之检测方法,其中铜箔 基板之材质系包含玻璃纤维布以及环氧树脂。 7.如申请专利范围第6项所述之检测方法,其中物料 特性参数系选自于该玻璃纤维布之纤维截面积大 小、该玻璃纤维布之比重、该特征函数、以及该 胶化时间及其任意组合所组成族群之一者,该环境 操作参数系选自于由环境温度、环境压力、该玻 璃纤维布于生产过程移动速度及其任意组合所组 成族群之一者。 8.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中先行 确认复数个铜箔基板之胶化时间,系透过加热抽丝 实验法以产生。 9.一种利用红外光线检测铜箔基板胶化时间(gel time)之检测系统,其中先行取样复数个已知胶化时 间之铜箔基板,该检测系统系包含: 一发光装置,系用以发射该红外光线以照射该复数 个铜箔基板; 一光感应装置,用以分别对每一个铜箔基板,感应 该铜箔基板于该红外光线不同频率时之红外光线 吸收度; 一红外光谱仪,用以建立一光谱与其对应红外光线 吸收度之特征函数; 一特征函数撷取模组,系于该特征函数中,撷取一 段特定频率之特征函数;以及 一类神经网路,系针对该段特定频率,将该复数个 铜箔基板之特征函数,以及该复数个铜箔基板之胶 化时间,以对应出一胶化时间关系。 10.如申请专利范围第9项所述之检测系统,其中于 对应出该胶化时间关系后,该发光装置以该红外光 线照射一待测铜箔基板,该光感应装置撷取该待测 铜箔基板于该红外光线不同频率时之红外光线吸 收度,于该段特定频率中,输入所述待测铜箔基板 之一组频率以及红外光线吸收度于该类神经网路 中,透过该类神经网路,根据该胶化时间关系,对应 出该待测铜箔基板之胶化时间。 11.如申请专利范围第9项所述之检测系统,其中该 检测系统更用以检测生产线上之铜箔基板,关于生 产线上铜箔基板之特性包含一物料特性参数以及 一环境操作参数,该物料特性参数系为该铜箔基板 之特性,该环境操作参数系生产该铜箔基板时所需 之环境条件,该检测系统更包含: 一资料库,系用以储存该物料特性参数以及该环境 操作参数; 其中,藉由该类神经网路,将该物料特性参数以及 该环境操作参数,对应产生一物料生产关系,并将 该物料生产关系储存于该资料库中。 12.如申请专利范围第11项所述之检测系统,其中于 对应出该物料生产关系后,输入该物料特性参数以 及该环境操作参数中至少一参数于该类神经网路 中,透过该类神经网路,根据该物料生产关系,对应 出该参数外之其他参数。 13.如申请专利范围第12项所述之检测系统,其中输 入该物料特性参数于该类神经网路中,后续透过该 类神经网路,根据该物料生产关系,系对应出该环 境操作参数。 14.如申请专利范围第11项所述之检测系统,其中铜 箔基板之材质系包含玻璃纤维布以及环氧树脂。 15.如申请专利范围第14项所述之检测系统,其中物 料特性参数系选自于该玻璃纤维布之纤维截面积 大小、该玻璃纤维布之比重、该特征函数、以及 该胶化时间及其任意组合所组成族群之一者,该环 境操作参数系选自于由环境温度、环境压力、该 玻璃纤维布于生产过程移动速度及其任意组合所 组成族群之一者。 16.如申请专利范围第9项所述之检测系统,其中先 行取样之该复数个铜箔基板,系利用加热抽丝实验 法而得知上述之胶化时间。 图式简单说明: 图一 系习知技术铜箔基板生产之示意图; 图二A 系本发明检测系统形成胶化时间关系之示 意图; 图二B 系本发明检测系统检测胶化时间之示意图; 图三 系本发明生产线上铜箔基板之检测示意图; 图四 人工神经元输入输出之示意图; 图五 系类神经网路前向网路之示意图; 图六 系本发明检测方法之流程图;以及 图七 系本发明生产线上铜箔基板之检测流程图。
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