| 发明名称 | 用于特征对准的系统和方法 | ||
| 摘要 | 在用于色谱系统的特征对准的系统和方法中，系统使第一样品穿过第一分离柱。系统确定第一样品轮次的第一组特征。系统使第二样品穿过第二分离柱，并确定第二样品轮次的第二组特征。系统估计穿过第一分离柱的第一样品轮次和穿过第二分离柱的第二样品轮次之间的特征的系统偏移。系统基于估计的系统偏移来调整针对穿过第二分离柱的第二样品轮次检测出的第二组特征，以获得第三组调整后的特征。 | ||
| 申请公布号 | CN1920552A | 申请公布日期 | 2007.02.28 |
| 申请号 | CN200610111502.7 | 申请日期 | 2006.08.17 |
| 申请人 | 安捷伦科技有限公司 | 发明人 | 李向东 |
| 分类号 | G01N30/02(2006.01);G01N30/86(2006.01) | 主分类号 | G01N30/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 王怡 |
| 主权项 | 1.一种用于色谱系统中的特征对准的方法，包括：使第一样品穿过第一分离柱；确定针对第一样品轮次的第一组特征；使第二样品穿过第二分离柱；检测针对第二样品轮次的第二组特征；估计在穿过所述第一分离柱的所述第一样品轮次和穿过所述第二分离柱的所述第二样品轮次的特征之间的系统偏移；以及基于估计出的系统偏移来调整针对穿过所述第二分离柱的所述第二样品轮次检测的所述第二组特征，以获得第三组调整后的特征。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||