发明名称 电解电容器用铝箔和形成蚀坑的蚀刻法
摘要 在制备用于电解电容器的铝箔中,本发明通过省略中间退火步骤来提高生产率。经过非电解工艺能够在铝箔极好地形成蚀坑。可以使用的铝箔具有由以质量比表示5-40ppm的Si、5-40ppm的Fe、0.1-3ppm的Pb和15-150ppm的Ni和余量是Al和不可避免的杂质构成的组成,所述不可避免的杂质包括少于10ppm的Cu,并且除Cu以外不可避免杂质的总量等于或者小于100ppm。在具有上述组成的铝箔中,氧化膜具有20-60的厚度和Ni在0.5μm深时具有等于或者高于1.5、在0.1μm深时具有等于或者高于10和在0.3μm深具有等于或者高于2的离子强度比,在此假定当位于铝箔1μm深时Ni的离子强度比等于1。另外,当Ni位于氧化膜中心区域的深处具有5-50的浓度比和当位于氧化膜与铝箔板的界面具有80-150的浓度比,在此Ni位于从氧化膜和铝箔板的界面靠近箔板10nm深处假定为1。通过按照下述步骤可以形成蚀坑:通过不施加电流让铝合金箔与不含盐酸的溶液或者含有少于1000ppm氯离子的溶液接触除去包含氧化膜的铝合金箔上20-200厚的表面层的步骤、形成蚀坑的步骤和扩大这样形成坑的直径的步骤。
申请公布号 CN1921042A 申请公布日期 2007.02.28
申请号 CN200610135760.9 申请日期 2006.06.14
申请人 三菱铝株式会社 发明人 吉井章;渡边英雄
分类号 H01G9/042(2006.01);H01G9/04(2006.01);H01G9/055(2006.01);C25F3/04(2006.01) 主分类号 H01G9/042(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘锴;段晓玲
主权项 1、一种用于电解电容器的铝箔,其包括以质量比表示5-40ppm的Si、5-40ppm的Fe、0.1-3ppm的Pb和15-150ppm的Ni,和余量是Al和不可避免的杂质,所述不可避免的杂质包括少于10ppm的Cu,并且除Cu以外不可避免杂质的总量等于或者小于100ppm。
地址 日本东京都