ZWEISCHICHT-CMP-PROZESS ZUR VERBESSERUNG DER OBERFLÄCHENRAUHHEIT EINES MAGNETISCHEN STAPELS IN MRAM-TECHNOLOGIE,申请号DE20036011131-传众专利搜索

发明名称	ZWEISCHICHT-CMP-PROZESS ZUR VERBESSERUNG DER OBERFLÄCHENRAUHHEIT EINES MAGNETISCHEN STAPELS IN MRAM-TECHNOLOGIE
摘要
申请公布号	DE60311131(D1)	申请公布日期	2007.02.22
申请号	DE20036011131	申请日期	2003.11.05
申请人	QIMONDA AG;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP.	发明人	COSTRINI, GREG;HUMMEL, P.;KRISHNAN, MAHADEVAIYER;LOW, KIA-SENG
分类号	G11C11/16;H01F10/26;H01F10/32;H01F41/30;H01L27/22;H01L43/12	主分类号	G11C11/16
代理机构		代理人
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