发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung von Halbleiter-Wafern
摘要
申请公布号 DE112005000828(T5) 申请公布日期 2007.02.22
申请号 DE200511000828 申请日期 2005.04.13
申请人 KOMATSU ELECTRONIC METALS CO. LTD. 发明人 NABESHIMA, FUMI;TOGASHI, KAZUYA;JIKEN, HIROSHI;SUENAGA, YOSHINORI
分类号 H01L21/66;G01N21/47;G01N21/95 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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