| 主权项 |
1.一种具有可规划扫瞄链的装置,包括: 一扫瞄链,具有一扫瞄输入埠与一扫瞄输出埠; 复数第一输入/输出埠; 一输入埠选择器,选择该等第一输入/输出埠中之 一者,耦接该扫瞄输入埠; 复数第二输入/输出埠;以及 一输出埠选择器,选择该等第二输入/输出埠中之 一者,耦接该扫瞄输出埠。 2.一种具有可规划扫瞄链的装置,包括: N个扫瞄链,每一该扫瞄链具有一扫瞄输入埠与一 扫瞄输出埠; M个第一输入/输出埠; 一输入埠选择器,选择该等第一输入/输出埠中之N 者,分别耦接N个扫瞄输入埠; K个第二输入/输出埠;以及 一输出埠选择器,选择该等第二输入/输出埠中之N 者,分别耦接N个扫瞄输出埠。 3.一种扫瞄链装置的规划方法,包括下列步骤: 读取一晶片之线路资料; 设定该晶片之扫瞄输入埠与扫瞄输出埠; 设定该晶片与另一晶片交互连接埠的组态; 执行测试编译; 选择扫瞄输入埠与扫瞄输出埠; 产生型样。 4.如申请专利范围第3项所述之扫瞄链装置的规划 方法,其中该型样是藉由一自动测试型样产生程式 (ATPG)所产生。 5.如申请专利范围第3项所述之扫瞄链装置的规划 方法,其中该线路资料是一暂存器转换层线路(RTL netlist)资料。 图式简单说明: 第一图系显示习知具有DFT功能之晶片的方块图;. 第二图系显示习知具有输入/输出埠共用电路之晶 片的方块图; 第三图系显示根据本发明一较佳实施例之具有可 规划扫瞄链的装置方块图; 第四图系显示根据本发明另一较佳实施例之具有 可规划扫瞄链的装置方块图; 第五图为多晶片模组两个晶片的连接示意图; 第六图为多晶片模组两个晶片以Type I连接之示意 图; 第七图为多晶片模组两个晶片以Type II连接之示意 图; 第八图为多晶片模组两个晶片以Type III连接之示 意图; 第九图根据本发明装置应用之一实例的示意图;以 及 第十图系显示根据本发明DFT之规划方法。 |
