发明名称 巨集区块之切割型式的决定方法
摘要 一种巨集区块之切割型式的决定方法。首先,对一巨集区块进行一粗略移动估算,以对应求得多数个不同切割型式的粗略相关资讯。接着,依据这些粗略相关资讯决定其中一种切割型式。然后,采用所决定的切割型式对巨集区块进行一精确移动估算,以求得一精确相关资讯,其中进行精确移动估算时所递增之画素偏移量系小于进行粗略移动估算时所递增之画素偏移量。此巨集区块之切割型式的决定方法有助于缩短运算时间,并可提供较佳之处理效能。
申请公布号 TWI274297 申请公布日期 2007.02.21
申请号 TW093135544 申请日期 2004.11.19
申请人 天瀚科技股份有限公司 发明人 张志峰;杜俊良
分类号 G06T9/00(2006.01) 主分类号 G06T9/00(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种巨集区块之切割型式的决定方法,包括: 对一巨集区块进行一粗略移动估算,以对应求得多 数个不同切割型式的粗略相关资讯; 依据该些粗略相关资讯决定其中一种切割型式;以 及 采用所决定的该切割型式对该巨集区块进行一精 确移动估算,以求得一精确相关资讯,其中进行该 精确移动估算时所递增之画素偏移量系小于进行 该粗略移动估算时所递增之画素偏移量。 2.如申请专利范围第1项所述之巨集区块之切割型 式的决定方法,其中每一该些粗略相关资讯包括移 动向量与其所对应之误差値。 3.如申请专利范围第2项所述之巨集区块之切割型 式的决定方法,其中依据该些相关资讯决定其中一 种切割型式时,系选择对应之误差値最小的该切割 型式。 4.如申请专利范围第1项所述之巨集区块之切割型 式的决定方法,其中该精确相关资讯包括移动向量 。 5.如申请专利范围第1项所述之巨集区块之切割型 式的决定方法,其中进行该粗略移动估算时所递增 之画素偏移量包括整数。 6.如申请专利范围第1项所述之巨集区块之切割型 式的决定方法,其中进行该精确移动估算时所递增 之画素偏移量包括小数。 图式简单说明: 图1绘示为习知之一种巨集区块之切割型式的决定 方法流程图。 图2绘示为本发明之一种巨集区块之切割型式的决 定方法流程图。
地址 新竹市科学园区工业东四路19号