发明名称 具有光学定位功能的透光晶圆及其制作方法与定位方法
摘要 一种具有光学定位功能之透光晶圆,此透光晶圆包括透光基板,以及至少沿着透光基板表面之周边区域而设置的不透光层,其中,透光基板的边缘具有一定位标记。不透光层能够吸收或反射侦测光线,使透光晶圆得以藉由定位标记之侦测而定位。本发明还包括此种具有光学定位功能之透光晶圆的制作方法与定位方法。
申请公布号 TWI274396 申请公布日期 2007.02.21
申请号 TW095101032 申请日期 2006.01.11
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 黄钰霖;徐惇颖;吴国鼎;黄俊尧
分类号 H01L21/68(2006.01);G01N21/958(2006.01) 主分类号 H01L21/68(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种具有光学定位功能之透光晶圆,包括: 一透光基板,该透光基板的边缘具有一定位标记; 以及 一不透光层,至少沿着该透光基板表面之周边区域 而设置,该不透光层能够吸收或反射侦测光线,使 该透光晶圆得以藉由该定位标记之侦测而定位。 2.如申请专利范围第1项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆,其中该不透光层设置于该透光基板之 正面或背面至少其中之一。 3.如申请专利范围第1项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆,其中该不透光层的材质包括选自树酯 墨水与甘油酯墨水所组成的群组。 4.如申请专利范围第1项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆,其中该不透光层为不透光隔热纸。 5.如申请专利范围第1项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆,其中该不透光层为透明电极/液晶/透 明电极之复合结构。 6.如申请专利范围第1项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆,其中该不透光层包括由偏光轴方向不 同之至少二偏光板组合而成。 7.如申请专利范围第1项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆,其中该透光基板的材质包括石英、玻 璃及透明塑胶其中之一。 8.一种具有光学定位功能之透光晶圆的制作方法, 包括: 提供一透光基板,该透光基板的边缘具有一定位标 记;以及 至少沿着该透光基板表面之周边区域形成一不透 光层,该不透光层能够吸收或反射侦测光线。 9.如申请专利范围第8项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆之制作方法,更包括于该透光基板之正 面或背面至少其中之一的周边区域形成该不透光 层。 10.如申请专利范围第8项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆之制作方法,其中该不透光层的材质包 括选自树酯墨水与甘油酯墨水所组成的群组。 11.如申请专利范围第8项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆之制作方法,其中该不透光层为不透光 隔热纸。 12.如申请专利范围第8项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆之制作方法,其中该不透光层为透明电 极/液晶/透明电极之复合结构。 13.如申请专利范围第8项所述之具有光学定位功能 之透光晶圆之制作方法,其中该不透光层包括由偏 光轴方向不同之至少二偏光板组合而成。 14.如申请专利范围第8项所述之透光晶圆之制作方 法,其中该透光基板的材质包括石英、玻璃及透明 塑胶其中之一。 15.一种具有光学定位功能之透光晶圆的定位方法, 该方法包括: 提供具有光学定位功能之一透光晶圆,该透光晶圆 包括: 一透光基板,该透光基板的边缘具有一定位标记; 以及 一不透光层,至少沿着该透光基板表面之周边区域 而设置; 提供一光学感测元件,用来侦测该透光晶圆,该光 学感测元件发射出之一侦测光线为该不透光层所 吸收或反射;以及 移动该透光晶圆,直至该光学感测元件侦测到该透 光基板之该定位标记。 16.如申请专利范围第15项所述之具有光学定位功 能之透光晶圆的定位方法,其中该不透光层设置于 该透光基板之正面或背面至少其中之一。 17.如申请专利范围第15项所述之具有光学定位功 能之透光晶圆的定位方法,其中该不透光层的材质 包括选自树酯墨水与甘油酯墨水所组成的群组。 18.如申请专利范围第15项所述之具有光学定位功 能之透光晶圆的定位方法,其中该不透光层为不透 光隔热纸。 19.如申请专利范围第15项所述之具有光学定位功 能之透光晶圆的定位方法,其中该不透光层为透明 电极/液晶/透明电极之复合结构。 20.如申请专利范围第19项所述之具有光学定位功 能之透光晶圆的定位方法,更包括提供一外加电压 来控制该不透光层对于该侦测光线之通过与否。 21.如申请专利范围第15项所述之具有光学定位功 能之透光晶圆的定位方法,其中该不透光层包括由 偏光轴方向不同之至少二偏光板组合而成。 22.如申请专利范围第15项所述之具有光学定位功 能之透光晶圆的定位方法,其中该透光基板的材质 包括石英、玻璃及透明塑胶其中之一。 图式简单说明: 图1是绘示习知的半导体设备之示意图。 图2是绘示习知一种于半导体设备中侦测石英晶圆 的方法之示意图。 图3是绘示本发明一实施例之一种具有光学定位功 能之透光晶圆的上视图。 图4是绘示沿着图3中I-I'线之剖面示意图。 图5是绘示本发明一实施例之一种透光晶圆的定位 方法所使用的半导体设备示意图。
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号