发明名称 用等离子体处理提高硅基晶体薄膜发光的方法
摘要 本发明涉及光电子薄膜材料及器件的制备与应用技术领域。特别是一种用等离子体处理提高硅基晶体薄膜发光的方法。第一步,按一定化学剂量比制备Er-Si-O溶胶;第二步,在经过常规处理的硅衬底上旋转涂覆一层Er-Si-O干凝胶薄膜;第三步,高温烧结达到总厚度的Er-Si-O干凝胶薄膜,原位生成Er-Si-O晶体薄膜;第四步,采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)设备产生的N等离子体处理硅基Er-Si-O晶体薄膜;第五步,二次退火等离子体处理过的Er-Si-O晶体薄膜,使N元素在薄膜里充分扩散,降低Er<SUP>3+</SUP>离子周围的晶体场对称性,提高光致发光强度。
申请公布号 CN1917237A 申请公布日期 2007.02.21
申请号 CN200510090642.6 申请日期 2005.08.18
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 王晓欣;张建国;王启明
分类号 H01L33/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 段成云
主权项 1.一种用等离子体处理提高硅基晶体薄膜发光的方法,其步骤如下:第一步,按一定化学剂量比制备Er-Si-O溶胶;第二步,在经过常规处理的硅衬底上旋转涂覆一层Er-Si-O干凝胶薄膜;第三步,高温烧结达到总厚度的Er-Si-O干凝胶薄膜,原位生成Er-Si-O晶体薄膜;第四步,采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)设备产生的N等离子体处理硅基Er-Si-O晶体薄膜;第五步,二次退火等离子体处理过的Er-Si-O晶体薄膜,使N元素在薄膜里充分扩散,降低Er3+离子周围的晶体场对称性,提高光致发光强度。
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