发明名称 |
测试装置及方法 |
摘要 |
一种测试装置及方法,此测试装置适于测试电子产品的电源循环周期,而此电子产品耦接至交流电源。此测试装置主要由控制单元以及开关单元所构成。其中,开关单元耦接至控制单元,而控制单元用以输出电源键模拟信号至电子产品,以及输出控制信号至开关单元。而且,开关单元适于耦接至交流电源,并依据其所接收的控制信号而决定交流电源的开启与否。此测试装置在单一测试循环中完全模拟使用者对此电子产品的开、关机操作程序。因此,在电子产品的电源循环周期测试中使用此测试装置能够提高测试结果的可靠性。 |
申请公布号 |
CN1916863A |
申请公布日期 |
2007.02.21 |
申请号 |
CN200510036605.7 |
申请日期 |
2005.08.19 |
申请人 |
佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司 |
发明人 |
梁伊麟 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01) |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种测试装置,适于测试一电子产品的电源循环周期,其中该电子产品耦接至一交流电源,而该测试装置包括:一控制单元,适于输出一电源键模拟信号至该电子产品,以及输出一控制信号;以及一开关单元,耦接于该控制单元,适于接收该控制单元所输出的该控制信号,且该开关单元适于耦接至该交流电源,并依据该控制信号而决定该交流电源的开启与否。 |
地址 |
528308广东省佛山市顺德区伦教街道顺达路一号 |