| 发明名称 | 晶片检测夹具 | ||
| 摘要 | 一种晶片检测夹具，适于承载一破裂晶片，晶片检测夹具包括一基座，基座具有一承载部，其中承载部用于承载破裂晶片，且承载部周围具有多个刻度标记用于标示破裂晶片的破裂位置。 | ||
| 申请公布号 | CN1917159A | 申请公布日期 | 2007.02.21 |
| 申请号 | CN200510089498.4 | 申请日期 | 2005.08.19 |
| 申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 林鸿燕 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01);H01L21/68(2006.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波;侯宇 |
| 主权项 | 1、一种晶片检测夹具，适于承载一破裂晶片，该晶片检测夹具包括一基座，该基座具有一承载部，其中该承载部用于承载该破裂晶片，且该承载部周围具有多个刻度标记用于标示该破裂晶片的破裂位置。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||