发明名称 一种工业生产过程小样本条件下的软测量方法
摘要 本发明公开了一种工业生产过程小样本条件下的软测量方法,用支持向最机构建输入与输出的映射关系,可测变量、对象的控制输入以及对象可测输出变量作为软测量模型的输入变量,被估计变量的最优估计作为输出;用遗传算法确定支持向量机的最优参数,并引入贝叶斯准则,加快遗传算法的收敛速度。本发明在解决小样本建模问题的同时,给出了模型参数的选取方法,具有严格的理论基础,可以简洁、方便的用于工业实际。
申请公布号 CN1916792A 申请公布日期 2007.02.21
申请号 CN200610053352.9 申请日期 2006.09.12
申请人 浙江大学 发明人 刘兴高;阎正兵
分类号 G05B17/02(2006.01);G05B13/02(2006.01) 主分类号 G05B17/02(2006.01)
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 周烽
主权项 1.一种工业生产过程小样本条件下的软测量方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)对来自工业实际的数据进行标准化处理,使得各变量的均值为0,方差为1。(2)随机初始化正规化参数和核参数值,用样本数据对支持向量机进行训练,建立支持向量机软测量模型。(3)对待优化参数进行二进制编码,用选择、交叉、变异等遗传算子进行全局寻优,并引入贝叶斯推断理论进行局部寻优,得到模型的最优参数。
地址 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号