| 发明名称 | 用于测试锁相环的方法和器件 | ||
| 摘要 | 一种用于测试具有电源输入的锁相环的测试器件，所述测试器件包括：电源单元，用于向锁相环的电源输入提供具有变化曲线的电源信号(V<SUB>DD</SUB>)，其中形成所述变化曲线的宽度和高度，使得防止压控振荡器输出振荡输出信号(U<SUB>out</SUB>)；用于禁止反馈信号到锁相环的相位比较器使得所述锁相环工作在开环模式下的装置；以及用于在将所述电源信号提供给电源输入时测量锁相环的测量信号的测量仪器。 | ||
| 申请公布号 | CN1918476A | 申请公布日期 | 2007.02.21 |
| 申请号 | CN200580004778.9 | 申请日期 | 2005.01.27 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | 乔斯·D.·J.·皮内达德格余维兹;亚历山大·G.·格伦托伍德;克利斯蒂亚诺·琴奇 |
| 分类号 | G01R31/30(2006.01);G01R31/3161(2006.01);G01R31/3167(2006.01) | 主分类号 | G01R31/30(2006.01) |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 王英 |
| 主权项 | 1、一种用于测试具有电源输入的锁相环的测试器件，所述测试器件包括：电源单元，用于向所述锁相环的所述电源输入提供具有变化曲线的电源信号(VDD)，其中形成所述变化曲线的宽度和高度，使得防止压控振荡器输出振荡输出信号(Uout)；用于禁止反馈信号到所述锁相环的相位比较器使得所述锁相环工作在开环模式下的装置；以及用于在将所述电源信号提供给所述电源输入时测量所述锁相环的测量信号的测量仪器。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||