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发明名称
半导体装置之制造方法及半导体装置
摘要
本发明系使具有多层层积晶片之结构之半导体装置薄型化。本发明于聚焦之状态下向半导体晶圆1W之半导体基板1S内部照射雷射光而形成改质区域PL。继而,藉由旋转涂布法于半导体晶圆1W之背面涂布液状之黏接材料后,使其乾燥而形成固体状之黏接层8a。其后,将上述改质区域PL作为分割起点而将半导体晶圆1W分割为各个半导体晶片。藉由其背面之黏接层8a将该半导体晶片黏接至其他半导体晶片之主面上,而制造具有多层层积半导体晶片之构造的半导体装置。
申请公布号
TW200707565
申请公布日期
2007.02.16
申请号
TW095123259
申请日期
2006.06.28
申请人
瑞萨科技股份有限公司
发明人
东野朋子;宫崎忠一;阿部由之
分类号
H01L21/301(2006.01)
主分类号
H01L21/301(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
日本
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