用于测试影像感测晶片之探针卡

摘要

一种用于测试影像感测晶片之探针卡，包含有一电路板、一导引机构，以及多数探针；电路板具有一第一表面、一第二表面，以及一开口，导引机构系设于电路板之第二表面，各探针一端系电性连接电路板，且位于电路板邻近开口之位置，而另一端则穿设导引机构，且朝导引机构之外侧延伸；藉此，本发明利用电路板之开口即可供测试用之光线直接穿射，使探针卡可用于测试影像感测晶片。