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发明名称 Verfahren zum Testen einer Vielzahl von Wortleitungen einer Halbleiterspeicheranordnung
摘要
申请公布号 DE50111772(D1) 申请公布日期 2007.02.15
申请号 DE20015011772 申请日期 2001.05.10
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 BRASS, ECKHARD, DR.;SCHAFFROTH, THILO;SCHNABEL, JOACHIM;SCHNEIDER, HELMUT
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C11/401;G11C29/12;G11C29/26;H01L27/10 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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