发明名称 |
在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置与方法 |
摘要 |
本发明揭露一种在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置,包含一光侦测器,用以侦测反射写录激光的强度并产生一反射信号;一取样保持电路,用以取样与保持该反射信号,以得到该反射信号的稳态区域位准;以及一判断单元,用以判断该反射信号的稳态区域位准是否在一特定范围内,当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内,即为侦测到瑕疵区块。本发明揭露的方法包含下列步骤:侦测反射写录雷射光的强度并产生一反射信号;取样与保持该反射信号,以得到该反射信号的稳态区域位准;以及判断该反射信号的稳态区域位准是否在一特定范围内,当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内,即侦测到瑕疵区块,反之,即侦测到正常区块。 |
申请公布号 |
CN1300779C |
申请公布日期 |
2007.02.14 |
申请号 |
CN200510009525.2 |
申请日期 |
2005.02.21 |
申请人 |
威盛电子股份有限公司 |
发明人 |
蔡金印;陈仕芳 |
分类号 |
G11B7/00(2006.01);G11B20/18(2006.01);G01N21/88(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/00(2006.01) |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
文琦;陈肖梅 |
主权项 |
1.一种在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置,包含:一光侦测器,用以侦测反射写录激光的强度并产生一反射信号;一取样保持电路,用以取样与保持该反射信号,其特征是,所述的该反射信号可获取一稳态区域位准,其具有最大值与最小值的特定范围,用于侦测瑕疵区块;以及一判断单元,该判断单元为一比较器电路,用以接收与比较该反射信号的稳态区域位准以及上述特定范围,其中当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内,即为侦测到瑕疵区块。 |
地址 |
台湾省台北县新店市中正路533号8楼 |