发明名称 在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置与方法
摘要 本发明揭露一种在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置,包含一光侦测器,用以侦测反射写录激光的强度并产生一反射信号;一取样保持电路,用以取样与保持该反射信号,以得到该反射信号的稳态区域位准;以及一判断单元,用以判断该反射信号的稳态区域位准是否在一特定范围内,当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内,即为侦测到瑕疵区块。本发明揭露的方法包含下列步骤:侦测反射写录雷射光的强度并产生一反射信号;取样与保持该反射信号,以得到该反射信号的稳态区域位准;以及判断该反射信号的稳态区域位准是否在一特定范围内,当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内,即侦测到瑕疵区块,反之,即侦测到正常区块。
申请公布号 CN1300779C 申请公布日期 2007.02.14
申请号 CN200510009525.2 申请日期 2005.02.21
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 蔡金印;陈仕芳
分类号 G11B7/00(2006.01);G11B20/18(2006.01);G01N21/88(2006.01) 主分类号 G11B7/00(2006.01)
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 文琦;陈肖梅
主权项 1.一种在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置,包含:一光侦测器,用以侦测反射写录激光的强度并产生一反射信号;一取样保持电路,用以取样与保持该反射信号,其特征是,所述的该反射信号可获取一稳态区域位准,其具有最大值与最小值的特定范围,用于侦测瑕疵区块;以及一判断单元,该判断单元为一比较器电路,用以接收与比较该反射信号的稳态区域位准以及上述特定范围,其中当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内,即为侦测到瑕疵区块。
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