发明名称 |
激光尺光学系统 |
摘要 |
一种用于对待测物进行测距的激光尺光学系统,包括激光光源、发射端透镜组件、接收端透镜组件、具有反射曲面的曲面反射组件和具有光接收表面的光接收组件。其中,激光光源发出的发射光线经过发射端透镜组件到达待测物,经待测物反射后的反射光线,经由接收端透镜组件后形成接收光线。该接收光线可部分直接入射至光接收组件的光接收表面,同时,该曲面反射组件的反射曲面能将前述接收光线中未能直接入射至光接收组件的光接收表面的剩余接收光线反射至光接收组件的光接收表面。 |
申请公布号 |
CN1912648A |
申请公布日期 |
2007.02.14 |
申请号 |
CN200510091221.5 |
申请日期 |
2005.08.10 |
申请人 |
亚洲光学股份有限公司 |
发明人 |
陈慧卿;陈海华 |
分类号 |
G01S7/481(2006.01);G01S17/08(2006.01) |
主分类号 |
G01S7/481(2006.01) |
代理机构 |
上海开祺知识产权代理有限公司 |
代理人 |
费开逵 |
主权项 |
1、一种激光尺光学系统,可以对待测物进行测距;其特征在于:其包括激光光源、发射端透镜组件、接收端透镜组件、具有反射曲面的曲面反射组件和具有光接收表面的光接收组件;光源发出的发射光线经过发射端透镜组件到达待测物,经待测物反射后的反射光线,经由接收端透镜组件后形成接收光线,该曲面反射组件的反射曲面能将前述接收光线中未能直接入射至光接收组件的光接收表面的部份接收光线反射至光接收组件的光接收表面。 |
地址 |
台湾省台中潭子乡台中加工出口区南二路22-3号 |