发明名称 |
一种测量IC卡模块抗压强度的方法及测量仪 |
摘要 |
本发明提供一种测量IC卡模块抗压强度的方法,包括如下步骤:将IC卡模块金属条带面朝上置于试验台上,使模块的胶体部分处于悬空状态,使模块的中心与压力杆的轴线位于同一条竖直线上,压头匀速向模块施加压力,IC卡的模块出现断裂时,读出断裂时的压力值f,计算模块的抗压强度P<SUB>模</SUB>=f/A,A为模块的胶体部分的面积。本发明的测量方法,可以直接测量出模块的抗压强度、并能定性地检测胶体与条带的粘接性能,同时还能检测所用胶体粘接性能的好坏,测量方法简单、直观,易于实现。本发明还提供一种对IC卡模块的抗压强度进行测量的抗压强度测量仪。 |
申请公布号 |
CN1912571A |
申请公布日期 |
2007.02.14 |
申请号 |
CN200510090261.8 |
申请日期 |
2005.08.12 |
申请人 |
大唐微电子技术有限公司 |
发明人 |
王爱秋 |
分类号 |
G01N3/08(2006.01);G01N3/02(2006.01) |
主分类号 |
G01N3/08(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种测量IC卡模块抗压强度的方法,其特征在于,包括如下步骤:a.将IC卡模块金属条带面朝上置于试验台上,使模块的胶体部分处于悬空状态;b.使模块的中心与压力杆的轴线位于同一条竖直线上;c.压头匀速向模块施加压力;d.IC卡的模块出现断裂时,读出断裂时的压力值f。 |
地址 |
100094北京市海淀区永嘉北路6号 |