| 摘要 |
Dispositif d'analyse elémentaire par spectrométrie d'émission optique sur plasma produit par laser. Ce dispositif comprend une source laser pulsée (6), des moyens (8, 10, 12) de focalisation de la lumière de cette source sur un objet à analyser (2), pour produire un plasma sur la surface de l'objet, des moyens (16,18) d'analyse d'un spectre du rayonnement du plasma, des moyens (20) de détermination, à partir de cette analyse, de la composition elémentaire de l'objet, et d'éventuels moyens (4) de déplacement de l'objet. L'invention s'applique notamment au contrôle de matériaux radioactifs.
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