| 主权项 |
1.一种电子设备之检测系统,该电子设备系具有至 少一指示灯,该检测系统包含: 一集中显示单元; 至少一导光单元,具有一导入端及一导出端,该导 出端系与该集中显示单元连接,该指示灯所产生之 光线系经由该导入端进入该导光单元内,并由该导 出端传送至该集中显示单元; 一摄像单元,系对该集中显示单元进行摄像,并产 生一影像资料;以及 一资料处理单元,系接收该影像资料。 2.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该电 子设备系为一网路设备。 3.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该指 示灯系为一发光二极体。 4.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该导 光单元系为一光纤。 5.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该集 中显示单元系具有一显示面。 6.如申请专利范围第5项所述之检测系统,其中该显 示面系具有至少一透光部。 7.如申请专利范围第6项所述之检测系统,其中当该 显示面具有复数透光部时,该等透光部系呈阵列排 列。 8.如申请专利范围第6项所述之检测系统,其中该导 光单元系藉由该导出端将该指示灯之光线传送至 该透光部。 9.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该摄 像单元系具有一电荷耦合元件。 10.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 摄像单元系具有一互补金属氧化导体元件。 11.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 摄像单元系为一数位摄影机。 12.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 摄像单元系为一数位照相机。 13.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 摄像单元之每秒画格数系大于该指示灯之闪烁速 率。 14.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 资料处理单元系包含一影像撷取元件,其系撷取该 摄像单元所产生之该影像资料。 15.如申请专利范围第14项所述之检测系统,其中该 资料处理单元系显示该影像撷取元件所撷取之该 影像资料。 16.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 资料处理单元系将该影像资料与一预设影像资料 进行比对。 17.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 资料处理单元系传送一触发讯号至该摄像单元。 18.如申请专利范围第1项所述之检测系统,其中该 导光单元之该导入端系与该指示灯直接接触。 19.一种电子设备之检测方法,该电子设备系具有至 少一指示灯,该检测方法包含下列步骤: 将该指示灯所产生之光线导引至一集中显示单元; 对该集中显示单元进行摄像,并产生一影像资料; 以及将该影像资料传送至一资料处理单元。 20.如申请专利范围第19项所述之检测方法,其中,当 该资料处理单元接收到该影像资料之后,更包含: 显示该影像资料。 21.如申请专利范围第19项所述之检测方法,其中,当 该资料处理单元接收到该影像资料之后,更包含: 将该影像资料与一预设影像资料进行比对。 22.如申请专利范围第19项所述之检测方法,其中,于 对该集中显示单元进行摄像之前,更包含: 传送一触发讯号至一摄像单元,以使该摄像单元进 行摄像。 23.如申请专利范围第19项所述之检测方法,其中对 该集中显示单元进行摄像之每秒画格数系大于该 指示灯之闪烁速率。 24.一种电子设备之检测系统,该电子设备系具有至 少一指示灯,该检测系统包含: 至少一导光单元,具有一导入端及一导出端,该指 示灯所产生之光线系经由该导入端导入该导光单 元内,并由该导出端导出该导光单元; 一集中显示单元,系与该导光单元之该导出端连接 ,该集中显示单元系依据该导光单元之该导出端所 导出之光线,而产生一数位影像资料;以及 一资料处理单元,系接收该数位影像资料。 25.如申请专利范围第24项所述之检测系统,其中该 电子设备系为一网路设备。 26.如申请专利范围第24项所述之检测系统,其中该 指示灯系为一发光二极体。 27.如申请专利范围第24项所述之检测系统,其中该 导光单元系为一光纤。 28.如申请专利范围第24项所述之检测系统,其中该 集中显示单元系具有一显示面。 29.如申请专利范围第28项所述之检测系统,其中该 显示面系具有至少一透光部。 30.如申请专利范围第29项所述之检测系统,其中当 该显示面具有复数透光部时,该等透光部系呈阵列 排列。 31.如申请专利范围第29项所述之检测系统,其中该 导光单元系藉由该导出端将该指示灯之光线传送 至该透光部。 32.如申请专利范围第24项所述之检测系统,其中该 资料处理单元系显示该数位影像资料。 33.如申请专利范围第24项所述之检测系统,其中该 资料处理单元系将该数位影像资料与一预设影像 资料进行比对。 34.如申请专利范围第24项所述之检测系统,其中该 导光单元之该导入端系与该指示灯直接接触。 35.一种电子设备之检测方法,该电子设备系具有至 少一指示灯,该检测方法包含下列步骤: 将该指示灯所产生之光线导引至一集中显示单元; 由该集中显示单元产生一数位影像资料;以及 将该数位影像资料传送至一资料处理单元。 36.如申请专利范围第35项所述之检测方法,其中,当 该资料处理单元接收到该数位影像资料之后,更包 含: 显示该数位影像资料。 37.如申请专利范围第35项所述之检测方法,其中,当 该资料处理单元接收到该数位影像资料至之后,更 包含: 将该数位影像资料与一预设影像资料进行比对。 38.如申请专利范围第35项所述之检测方法,其中该 指示灯所产生之光线系藉由一导光单元导引至该 集中显示单元。 图式简单说明: 图1为依据本发明第一实施例之一种电子设备之检 测系统之一示意图; 图2为依据本发明第一实施例之一种电子设备之检 测方法之一流程图; 图3为依据本发明第一实施例之一种电子设备之检 测一方法之另一流程图; 图4为依据本发明第二实施例之一种电子设备之检 测系统之一示意图; 图5为依据本发明第二实施例之一种电子设备之检 测方法之一流程图;以及 图6为依据本发明第二实施例之一种电子设备之检 测方法之另一流程图。 |
