可快速进行光电元件之可靠度分析的方法

摘要

本发明系有关于一种可快速进行光电元件之可靠度分析的方法，主要利用频谱分析仪检测光电元件之低频时的杂讯等效功率(NEP)和杂讯峰值(Peak)，再将光电元件施予适当之顺向和逆向偏压，使之产生正负电流的交互变动周期，并给予适当的循环周期次数、周期时间和工作周期，再藉由频谱分析仪检测经过电性周期测试之光电元件，其低频时的杂讯等效功率(NEP)和杂讯峰值(Peak)是否比未经电性周期测试的值高，并将经过电性周期测试之光电元件在低频时杂讯等效功率(NEP)和杂讯峰值(Peak)以统计的标准差方式找出有可靠度问题的光电元件，以达到快速且精准的可靠度分析。

主权项

1.一种可快速进行光电元件之可靠度分析的方法, 主要将光电元件以频谱分析仪第一次检测光电元 件在低频时的杂讯等效功率(NEP)和杂讯峰値(Peak), 并施予正负电流的交互变动周期,且给予适当的循 环周期次数、周期时间和工作周期,再利用频谱分 析仪第二次检测光电元件在低频时的杂讯等效功 率(NEP)和杂讯峰値(Peak),俾藉由频谱分析仪第一次 和第二次检测的结果作一比较找出有可靠度问题 之光电元件,达成可快速进行光电元件之可靠度分 析的目的。 2.如申请专利范围第1项所述可快速进行光电元件 之可靠度分析的方法,其中判断异常的方法可由频 谱分析仪第一次和第二次检测的低频杂讯等效功 率以标准差方式得到可靠度分析。 3.如申请专利范围第1项所述可快速进行光电元件 之可靠度分析的方法,其中判断异常的方法可由频 谱分析仪第一次和第二次检测的低频杂讯峰値以 标准差方式得到可靠度分析。 4.如申请专利范围第1项所述可快速进行光电元件 之可靠度分析的方法,其中判断异常的方法可由频 谱分析仪第一次和第二次检测的低频杂讯峰値和 杂讯等效功率之乘积以标准差方式得到可靠度分 析。 5.如申请专利范围第1、2、3或4项所述可快速进行 光电元件之可靠度分析的方法,其中该光电元件为 发光二极体晶片。 图式简单说明: 第一图:本创作之试片图 第二图:本创作之实施例图 第三图:现有之外观图