发明名称 二维图像分析处理系统及方法
摘要 本发明揭露一种二维图像分析处理系统,包括一电脑用于分析处理二维图像,一存储装置用于存储二维图像,上述电脑包括:一资料存取模组,用于存取上述存储装置中的二维图像;一灰度值获取模组,用于获取二维图像中图元的灰度值;一特殊点获取模组,用于依据获取的图元灰度值,计算该图元的灰度值梯度,获取二维图像上的特殊点;一图形分析模组,用于依据获取的图像上的特殊点,计算特殊点形成的图形,输出图形及图形参数。本发明还揭露了一种二维图像分析处理方法。
申请公布号 TWI273513 申请公布日期 2007.02.11
申请号 TW093141612 申请日期 2004.12.31
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 孙小超;张旨光
分类号 G06T7/00(2006.01) 主分类号 G06T7/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种二维图像分析处理系统,可以对二维图像进 行分析处理,获取图像中的特殊点,输出由特殊点 构成的图形及其参数,该系统包括一电脑,用于分 析处理二维图像;一存储装置,用于存储二维图像, 上述电脑包括: 一资料存取模组,用于存取上述存储装置中的二维 图像; 一灰度値获取模组,用于获取二维图像中图元的灰 度値; 一特殊点获取模组,用于依据获取的图元灰度値, 计算该图元的灰度値梯度,获取二维图像上的特殊 点; 一图形分析模组,用于依据获取的图像上的特殊点 ,计算特殊点形成的图形,输出图形及图形参数。 2.如申请专利范围第1项所述的二维图像分析处理 系统,该系统还包括: 一摄像装置,用于将光信号转换成为电信号,获取 待测物的二维图像资料; 一影像卡,与上述摄像装置及上述电脑连接,用于 将摄像装置获取的二维图像资料转换为电脑可识 别的二维图像。 3.如申请专利范围第2项所述的二维图像分析处理 系统,上述资料存取模组可以透过影像卡直接获得 待测物的二维图像。 4.如申请专利范围第2项所述的二维图像分析处理 系统,上述摄像装置的光电感测器为电荷耦合(CCD, Charge Coupled Device)或者互补金属氧化物半导体(CMOS, Complementary Metal Oxide Semiconductor)。 5.如申请专利范围第1项所述的二维图像分析处理 系统,上述电脑还包括一量测模组,用于对上述图 形分析模组形成的图形进行参数量测,判断该图形 是否满足预设的参数要求。 6.如申请专利范围第1项所述的二维图像分析处理 系统,上述电脑还包括一图像识别模组,用于将上 述图形分析模组形成的图形与已知图像对比,识别 是否与已知图像相同或者类似。 7.一种二维图像分析处理方法,可以对二维图像进 行分析处理,获取图像中的特殊点,输出由特殊点 构成的图形及其参数,该方法包括如下步骤: 读取待测物的二维图像; 获取二维图像中图元的灰度値; 依据获取的图元灰度値,计算该图元的灰度値梯度 ,获取二维图像上的特殊点; 依据获取的图像上的特殊点,计算由特殊点形成的 图形及图形参数,输出图形及图形参数。 8.如申请专利范围第7项所述的二维图像分析处理 方法,上述读取待测物的二维图像的步骤包括从一 存储装置中读取二维图像。 9.如申请专利范围第7项所述的二维图像分析处理 方法,上述读取待测物的二维图像的步骤包括透过 一摄像装置直接获得待测物的二维图像资料,透过 一影像卡将二维图像资料转换为电脑可识别的二 维图像传送给上述电脑。 10.如申请专利范围第7项所述的二维图像分析处理 方法,上述获取二维图像中图元的灰度値的步骤包 括如下子步骤: 获取起始图元的灰度値; 以起始图元为基点,向该起始图元周围沿多个方向 获取该方向上一定距离的第二个图元的灰度値; 将第二个图元设定为起始图元,重复上述步骤,获 取二维图像内各个图元的灰度値。 11.如申请专利范围第10项所述的二维图像分析处 理方法,该方法还包括步骤如下: 设定要获取灰度値的图元的数量要求并判断已经 获取灰度値的图元数量是否满足设定数量要求,若 满足要求,则结束获取图元灰度値步骤,若未满足 要求,则继续获取下一个图元的灰度値。 12.如申请专利范围第10项所述的二维图像分析处 理方法,其上述获取各图元的灰度値的步骤包括如 下子步骤: 获取该图元的二维座标; 依据该图元的二维座标,获取该二维座标对应的灰 度値绝对値作为该图元的灰度値。 13.如申请专利范围第10项所述的二维图像分析处 理方法,上述获取图元的灰度値的步骤包括如下子 步骤: 获取该图元的二维座标; 依据该图元的二维座标,确定该图元附近的一个区 域; 获取上述区域各图元的二维座标; 依据上述各图元的二维座标,获取各座标对应的图 元的灰度値; 取上述各图元灰度値的中间値,作为该图元的灰度 値。 14.如申请专利范围第10项所述的二维图像分析处 理方法,上述获取图元的灰度値的步骤包括如下子 步骤: 获取该图元的二维座标; 依据该图元的二维座标,以该图元为中心确定一个 区域; 获取上述区域各图元的二维座标; 依据上述各图元的二维座标,获取各座标对应的图 元的灰度値; 取上述各图元灰度値的平均値,作为该图元的灰度 値。 15.如申请专利范围第13项或第14项所述的二维图像 分析处理方法,上述依据该图元的二维座标,以该 图元为中心确定一个区域的步骤所确定的区域大 小为预设的,并可以灵活的设定。 16.如申请专利范围第7项所述的二维图像分析处理 方法,上述依据获取的图元灰度値,计算该图元的 灰度値梯度,获取二维图像上的特殊点的步骤包括 如下子步骤: 设定灰度値梯度极限値; 取该图元的灰度値与以该图元为基点向该起始图 元周围沿多个方向获取该方向上一定距离的各个 图元的灰度値的差値,作为该图元沿该方向的灰度 値梯度; 判断该图元沿该方向灰度値梯度是否超过灰度値 梯度极限値,若超过灰度値梯度极限値,则确定该 图元为特殊点; 若未超过灰度値梯度极限値,则继续获取以该图元 为基点向该起始图元周围沿多个方向获取该方向 上一定距离的某个图元的灰度値梯度,寻找特殊点 。 17.如申请专利范围第16项所述的二维图像分析处 理方法,该方法还包括步骤如下: 设定要获取特殊点的数量并判断已经获取的特殊 点是否满足设定的数量要求,若满足要求,则结束 获取特殊点的步骤,若未满足要求,则继续获取下 一个特殊点。 18.如申请专利范围第7项所述的二维图像分析处理 方法,该方法还包括如下步骤: 将图形参数与预设的参数对比,判断该图形是否满 足预设的参数要求。 19.如申请专利范围第7项所述的二维图像分析处理 方法,该方法还包括如下步骤: 将图形参数进行处理分析,寻找图形特征,识别待 测物的二维图像是否与已知图像相同或者类似。 20.如申请专利范围第7项所述的二维图像分析处理 方法,该方法输出的图形为圆、圆环、圆弧、点、 段、弧线。 图式简单说明: 第一图系本发明二维图像分析处理系统之硬体架 构图。 第二图系本发明电脑之功能模组图。 第三图系本发明二维图像分析处理方法之工作流 程图。 第四图系本发明二维图像分析处理方法获取图元 灰度値的工作流程图。 第五图系本发明二维图像分析处理方法获取特殊 点的工作流程图。
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