| 主权项 |
1.一种电子元件系统测试之探针装置,适用于一电 子元件系统之测试,至少包含: 一探针单元,包含一支撑座与一第一数目之探针, 该些探针设置于该支撑座上,用以对该电子元件系 统进行测试;以及 一线路切换装置,用以使一第二数目之该些探针与 一第三数目之测试讯号源之间呈电性连接, 其中该第二数目小于该第一数目,该第二数目不小 于该第三数目。 2.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该第 二数目为该第三数目之一整数倍数。 3.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该线 路切换装置为一排线,包含: 一探针连接头,包含该第二数目之探针端接脚,用 以电连接于该些探针; 一讯号源连接头,包含该第三数目之讯号源端接脚 ,用以电连接于该些测试讯号源;以及 一传输线路,使该些探针端接脚与该些讯号源端接 脚依据一线路配置而呈电性连接, 其中每一该些讯号源端接脚电连接至少一该些探 针端接脚。 4.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该线 路切换装置为一软性电路板,一端电连接于该些探 针,另一端电连接于该些测试讯号源。 5.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该支 撑座之同一侧之该些探针之间距相等。 6.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该支 撑座为一方框。 7.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该支 撑座为一横杆。 8.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该些 探针与该些探针连结器接脚系以一软性电路板电 连接。 9.如申请专利范围第1项所述之探针装置,其中该探 针装置系可配合复数个基板使用,每一该些基板上 具有复数个接触垫,每一该些接触垫皆可对应至该 些探针其中之一。 10.一种电子元件系统测试之探针装置,适用于一电 子元件系统之测试,至少包含: 一探针单元,包含一支撑座、一探针连结器以及一 第一数目之探针,该些探针设置于该支撑座上,用 以对该电子元件系统进行测试,该探针连结器包含 该第一数目之探针连结器接脚,该些探针连结器接 脚系对应地电性连接于该些探针;以及 一线路切换装置,用以使该些探针与一第三数目之 测试讯号源电性连接,包含: 一探针连接头,具有一第二数目之探针端接脚,用 以对应地电连接于该些探针连结器接脚;以及 一讯号源连接头,具有该第三数目之讯号源端接脚 ,用以电连接于该第三数目之该些测试讯号源,且 该些讯号源端接脚与该第二数目之该些探针端接 脚呈电性连接, 其中该第二数目小于该第一数目,该第二数目不小 于该第三数目。 11.如申请专利范围第10项所述之探针装置,其中该 线路切换装置为一排线。 12.如申请专利范围第10项所述之探针装置,其中该 支撑座之一侧之该些探针之间距相等。 13.如申请专利范围第10项所述之探针装置,其中该 些探针与该些探针连结器接脚系以一软性电路板 电连接。 14.如申请专利范围第10项所述之探针装置,其中该 探针装置系可配合复数个基板使用,每一该些基板 上具有复数个接触垫,每一该些接触垫皆可对应至 该些探针其中之一。 15.一种电子元件系统测试之探针装置,适用于一电 子元件系统之测试,至少包含: 一探针单元,包含一支撑座、一探针连结器以及一 第一数目之探针,该些探针设置于该支撑座上,用 以对该面板阵列进行测试,该探针连结器包含该第 一数目之探针连结器接脚,该些探针连结器接脚系 对应地电性连接于该些探针; 一线路切换装置,包含: 一探针连接头,具有该第一数目之探针端接脚,用 以对应地插置于该些探针连结器接脚;以及 一讯号源连接头,具有一第三数目之讯号源端接脚 ,该些讯号源端接脚与一第二数目之该些探针端接 脚呈电性连接,其中该第二数目小于该第一数目, 该第二数目不小于该第三数目;以及 一讯号源装置,包含一讯号源连结器,该讯号源连 结器包含该第四数目之讯号源连结器接脚,用以对 应地插置并电性连接于该些讯号源端接脚,以供应 测试讯号,其中该第四数目大于或等于该第三数目 。 16.如申请专利范围第15项所述之探针装置,其中该 线路切换装置为一排线。 17.如申请专利范围第15项所述之探针装置,其中该 第二数目为该第三数目之一整数倍数。 18.如申请专利范围第15项所述之探针装置,其中该 支撑座之一侧之该些探针之间距相等。 19.如申请专利范围第15项所述之探针装置,其中该 支撑座为一框架或一横杆。 20.如申请专利范围第15项所述之探针装置,其中该 些探针与该些探针连结器接脚系以一软性电路板 电连接。 图式简单说明: 第1A图系绘示依照本发明电子元件系统测试之探 针装置一较佳实施例的示意图。 第1B图系绘示依照本发明一较佳实施例中探针与 接触垫接触之示意图。 第2图系绘示依照本发明一较佳实施例中探针之配 置图。 第3图系绘示依照本发明一较佳实施例中线路切换 装内部之线路配置示意图。 |
