| 主权项 |
1.一种用于检测光学储存装置组装品质的检测方 法,包括下列步骤: (A).计数一光学储存装置的物镜在聚焦方向的行程 上,自物镜移动的最下限位置移动至最上限位置的 第一行程时间T1; (B).令该光学储存装置的光学拾取头对一光碟片的 内圈位置处发射雷射光,以及将该物镜自最下限位 置朝向该最上限位置移动,并开始计数至发生聚焦 讯号时来获得一第二行程时间T2; (C).令该光学储存装置的光学拾取头对该光碟片的 外圈位置处发射雷射光,以及将该物镜自最下限位 置朝向该最上限位置移动,并开始计数至发生聚焦 讯号时来获得一第三行程时间T3; (D).依据该第一行程时间、该第二行程时间、该第 三行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光 学储存装置的组装品质。 2.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该步 骤(D)的组装品质计算式,系 导杆(Guide Bar)平面偏移量=T2-T3。 3.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该步 骤(D)的组装品质计算式,系 理想聚焦位置与实际聚焦位置偏移量=T2-(T1/2)。 4.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该步 骤(A)至该步骤(D),系在该光学储存装置的主轴马达 停止旋转的状态下进行。 5.如申请专利范围第1项所述之检测方法,该检测方 法进一步包括下列步骤: (E).令该光学储存装置的主轴马达以一固定转速旋 转着,以及令该光学拾取头对该光碟片的外圈位置 处发射雷射光,以及将该物镜自最下限位置朝向该 最上限位置移动,并进行至少二次以上的计数,每 次计数至发生聚焦讯号为止,来获得该些计数的最 大値作为第四行程时间T4; (F).令该光学储存装置的主轴马达以该固定转速旋 转着,以及令该光学拾取头对该光碟片相同步骤(E) 的外圈位置处发射雷射光,以及将该物镜自最下限 位置朝向该最上限位置移动,并进行至少二次以上 的计数,每次计数至发生聚焦讯号为止,来获得该 些计数的最小値作为第五行程时间T5; (G).依据该第四行程时间、该第五行程时间利用一 组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装 品质。 6.如申请专利范围第5项所述之检测方法,其中该步 骤(G)的组装品质计算式,系 主轴马达平面平整度偏移量=T4-T5。 7.如申请专利范围第5项所述之检测方法,该检测方 法进一步包括下列步骤: (H).令该光学储存装置的主轴马达分别以各个倍速 转速旋转着,以及令该光学拾取头对该光碟片的外 圈位置处发射雷射光,以及将该物镜自最下限位置 朝向该最上限位置移动,并在各个倍速下分别进行 至少二次以上的计数,每次计数至发生聚焦讯号为 止,来获得该些计数的最大値作为第六行程时间T6; (I).令该光学储存装置的主轴马达分别以该各个倍 速转速旋转着,以及令该光学拾取头对该光碟片相 同于该步骤(H)的外圈位置处发射雷射光,以及将该 物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动,并在该 各个倍速下分别进行至少二次以上的计数,每次计 数至发生聚焦讯号为止,来获得该些计数的最小値 作为第七行程时间T7; (K).依据该第六行程时间、该第七行程时间利用一 组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装 品质。 8.如申请专利范围第7项所述之检测方法,其中该步 骤(K)的组装品质计算式,系 各倍速机械共振偏移量=T6-T7-(T4-T5)。 9.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该光 学储存装置,系一光碟机。 10.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该 检测方法,系可编写成一程式码予以实现的方法 11.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该 程式码,系被该光学储存装置执行。 12.一种具自我检测组装品质的光学储存装置,包括 : 一光学拾取头,系用以对一光碟片发射一雷射光; 一物镜,系用以将该雷射光聚焦至该光碟片上; 一处理器; 一程式码,系被该光学储存装置的处理器执行,使 得该光学储存装置进行下列步骤: (A).计数该物镜在聚焦方向的行程上,自该物镜移 动的最下限位置移动至最上限位置的第一行程时 间T1; (B).令该光学拾取头对该光碟片的内圈位置处发射 雷射光,以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限 位置移动,并开始计数至发生聚焦讯号时来获得一 第二行程时间T2; (C).令该光学拾取头对该光碟片的外圈位置处发射 雷射光,以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限 位置移动,并开始计数至发生聚焦讯号时来获得一 第三行程时间T3; (D).依据该第一行程时间、该第二行程时间、该第 三行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光 学储存装置的组装品质。 13.如申请专利范围第12项所述之光学储存装置,其 中该步骤(D)的组装品质计算式,系 导杆(Guide Bar)平面偏移量=T2-T3。 14.如申请专利范围第12项所述之光学储存装置,其 中该步骤(D)的组装品质计算式,系 理想聚焦位置与实际聚焦位置偏移量=T2-(T1/2)。 15.如申请专利范围第12项所述之光学储存装置,其 中该步骤(A)至该步骤(D),系在该光学储存装置的主 轴马达停止旋转的状态下进行。 16.如申请专利范围第12项所述之光学储存装置,该 程式码进一步被该光学储存装置执行: (E).令该光学储存装置的主轴马达以一固定转速旋 转着,以及令该光学拾取头对该光碟片的外圈位置 处发射雷射光,以及将该物镜自最下限位置朝向该 最上限位置移动,并进行至少二次以上的计数,每 次计数至发生聚焦讯号为止,来获得该些计数的最 大値作为第四行程时间T4; (F).令该主轴马达以该固定转速旋转着,以及令该 光学拾取头对该光碟片相同步骤(E)的外圈位置处 发射雷射光,以及将该物镜自最下限位置朝向该最 上限位置移动,并进行至少二次以上的计数,每次 计数至发生聚焦讯号为止,来获得该些计数的最小 値作为第五行程时间T5; (G).依据该第四行程时间、该第五行程时间利用一 组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装 品质。 17.如申请专利范围第16项所述之光学储存装置,其 中该步骤(G)的组装品质计算式,系 主轴马达平面平整度偏移量=T4-T5。 18.如申请专利范围第16项所述之光学储存装置,该 程式码进一步被光学储存装置执行: (H).令该光学储存装置的主轴马达分别以各个倍速 转速旋转着,以及令该光学拾取头对该光碟片相同 于该步骤(H)的外圈位置处发射雷射光,以及将该物 镜自最下限位置朝向该最上限位置移动,并在该各 个倍速下分别进行至少二次以上的计数,每次计数 至发生聚焦讯号为止,来获得该些计数的最大値作 为第六行程时间T6; (I).令该主轴马达分别以该各个倍速转速旋转着, 以及令该光学拾取头对该光碟片的外圈位置处发 射雷射光,以及将该物镜自最下限位置朝向该最上 限位置移动,并在各个倍速下分别进行至少二次以 上的计数,每次计数至发生聚焦讯号为止,来获得 该些计数的最小値作为第七行程时间T7; (K).依据该第六行程时间、该第七行程时间利用一 组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装 品质。 19.如申请专利范围第18项所述之光学储存装置,其 中该步骤(K)的组装品质计算式,系 各倍速机械共振偏移量=T6-T7-(T4-T5)。 20.如申请专利范围第12项所述之光学储存装置,其 中该光学储存装置,系一光碟机。 图式简单说明: 第一图显示本发明方法的主要流程图。 第二图显示实施本发明方法的硬体架构图。 第三图显示本发明的S曲线图。 第四图显示本发明方法之检测主轴马达组装偏移 量的流程图。 第五图显示本发明方法之检测各倍速机械共振偏 移量的流程图。 |
