发明名称 检测系统及方法
摘要 一种检测系统包含一终端主机以及一待测试电路板,其中终端主机系产生一触发信号,待测试电路板系包含一系统晶片、一记忆体与一处理器,其中系统晶片系接收终端主机之触发信号并产生一中断,记忆体系储存中断所对应之一检测程式码,处理器接收中断并执行该记忆体内中断所对应之检测程式码以产生一检测结果,系统晶片将检测结果由处理器传送至终端主机。
申请公布号 TWI273264 申请公布日期 2007.02.11
申请号 TW094120855 申请日期 2005.06.22
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 赖格昇;陈彦良
分类号 G01R31/304(2006.01) 主分类号 G01R31/304(2006.01)
代理机构 代理人 刘正格 台北市大同区重庆北路3段88号3楼之1
主权项 1.一种电路板检测系统,包含: 一终端主机,系产生一触发信号;以及 一待测试电路板,系包含一系统晶片、一记忆体与 一处理器,其中该系统晶片系接收该终端主机之该 触发信号并产生一中断(Interrupt),该记忆体系储存 该中断所对应之一检测程式码,该处理器接收该中 断并执行该记忆体中该中断所对应之该检测程式 码以产生一检测结果,并将该检测结果传送至该终 端主机。 2.如申请专利范围第1项所述之电路板检测系统,其 中该中断系一系统管理中断(SMI, System Management Interrupt)。 3.如申请专利范围第1项所述之电路板检测系统,其 中该待测试电路板更包含: 一输出入通讯埠,其系接收该终端主机之该触发信 号并传送该触发信号至该系统晶片,且该输出入通 讯埠亦接收该检测结果并传送该检测结果至该终 端主机。 4.如申请专利范围第3项所述之电路板检测系统,其 中该输出入通讯埠系一串列通讯埠(Serial Communication Port)。 5.如申请专利范围第1项所述之电路板检测系统,更 包含: 一远端主机,其系透过该终端主机取得该检测结果 。 6.如申请专利范围第1项所述之电路板检测系统,更 包含: 一远端主机,其系产生一检测要求,其中该终端主 机系接收该检测要求并依据该检测要求产生该触 发信号。 7.如申请专利范围第1项所述之电路板检测系统,更 包含: 一远端主机,其系透过网路与该终端主机连线。 8.如申请专利范围第1项所述之电路板检测系统,其 中该待测试电路板系一主机板。 9.如申请专利范围第1项所述之电路板检测系统,其 中该远端主机系一行动通讯装置。 10.一种电路板检测方法,包含: 由一终端主机产生一触发信号; 由一待测试电路板接收该终端主机之该触发信号; 依据该触发信号产生一中断(Interrupt); 依据该中断所对应之一检测程式码以产生一检测 结果;以及 由该待测试电路板传送该检测结果至该终端主机 。 11.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 其中该中断系一系统管理中断(SMI, System Management Interrupt)。 12.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 其中由该待测试电路板接收该终端主机之该触发 信号之步骤系透过该待测试电路板之一输出入通 讯埠接收该终端主机之该触发信号。 13.如申请专利范围第12项所述之电路板检测方法, 其中该输出入通讯埠系一串列通讯埠(Serial Communication Port)。 14.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 其中由该待测试电路板传送该检测结果至该终端 主机之步骤系透过该待测试电路板之一输出入通 讯埠传送该检测结果至该终端主机。 15.如申请专利范围第14项所述之电路板检测方法, 其中该输出入通讯埠系一串列通讯埠(Serial Communication Port)。 16.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 更包含: 由一远端主机透过该终端主机取得该检测结果。 17.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 更包含: 由一远端主机系产生一检测要求,其中该终端主机 系接收该检测要求并依据该检测要求产生该触发 信号。 18.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 更包含: 透过网路建立一远端主机与该终端主机之一连线 。 19.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 其中该待测试电路板系一主机板。 20.如申请专利范围第10项所述之电路板检测方法, 其中该远端主机系一行动通讯装置。 图式简单说明: 图1为显示习知检测系统之一区块图; 图2为显示依本发明较佳实施例之检测系统之一区 块图; 图3为显示依本发明较佳实施例之检测系统具体实 施方式之一区块图;以及 图4为一示意图,显示依本发明较佳实施例之检测 方法。
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