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Es wird ein Verfahren zur Überprüfung eines ersten Spannungswertes einer in einem Signalspannungsbereich (Usens) liegenden, von einem elektronischen Bauteil (100) ausgebbaren Signalspannung (Us), die von einer Messeinrichtung (150) mit einem Eingangsspannungsbereich, der kleiner ist als der Signalspannungsbereich (Usens), erfassbar ist, wobei ein Spannungsteiler (110, 111, 112) den Signalspannungsbereich in den Eingangsspannungsbereich transformiert, vorgestellt, wobei ein zunächst erster Spannungswert von der Messeinrichtung (150) gemessen wird, ein einen elektrischen Widerstand aufweisendes Bauteil (120) dem Spannungsteiler (110, 111, 112) wenigstens teilweise parallel geschaltet wird, daraufhin ein zweiter Spannungswert von der Messeinrichtung (150) gemessen wird und das Ergebnis der Prüfung aus dem Vergleich des ersten und des zweiten Spannungswerts abgeleitet wird. Weiterhin wird eine Vorrichtung (110, 111, 112, 120, 121) mit einem Spannungsteiler, Umschaltmitteln (121) und einem einen elektrischen Widerstand aufweisenden Bauteil (120) vorgestellt, wobei das einen elektrischen Widerstand aufweisende Bauteil (120) mittels der Umschaltmittel (121) dem Spannungsteiler (110, 111, 112) wenigstens teilweise parallel schaltbar ist.
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