发明名称 Einrichtung zum Schneiden von Proben
摘要 <p>Es ist eine Einrichtung (1) zum Schneiden von Proben offenbart, wobei die Einrichtung (1) ein Mikrotom oder ein Ultramikrotom (3) umfasst, das zum Erzeugen dünner Probenstücke ausgebildet ist. Ein Tisch (5) zum Aufstellen des Mikrotoms oder Ultramikrotroms (3) ist vorgesehen, wobei eine Kühlkammer (30) vorgesehen ist, die einen Bereich des Mikrotoms oder Ultramikrotoms (3) zum Erzeugen dünner Probenstücke umgibt. Eine Glovebox (42) umgibt das Mikrotom oder Ultramikrotom (3) und die Kühlkammer (30). Die Glovebox (30) steht auf dem Tisch (5) und ein Kühlmittelschlauch (37) verbindet ein Vorratsgefäß (35) mit Kühlmittel mit der Kühlkammer (30). Das aus der Kühlkammer (30) verdampfende Kühlmittel füllt die Glovebox (42).</p>
申请公布号 DE102005037060(A1) 申请公布日期 2007.02.08
申请号 DE20051037060 申请日期 2005.08.05
申请人 LEICA MIKROSYSTEME GMBH 发明人 LIHL, REINHARD;ZIMMERMANN, MICHAEL
分类号 G01N1/06;B01L1/00;B01L7/00 主分类号 G01N1/06
代理机构 代理人
主权项
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