| 发明名称 | 测试装置及其方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种改良测试实验的装置和方法，该装置包含了系统板和强度模块，系统板内有待测元件，强度模块则和待测元件连接，强度模块可以提供不同范围的温度和电压给待测元件以进行测试。 | ||
| 申请公布号 | CN1909202A | 申请公布日期 | 2007.02.07 |
| 申请号 | CN200510088589.6 | 申请日期 | 2005.08.02 |
| 申请人 | 矽统科技股份有限公司 | 发明人 | 颜文东 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01);G01R31/26(2006.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 陈亮 |
| 主权项 | 1.一种测试装置，其系用以测试一待测元件，包含：一系统板，该待测元件固定于该系统板；一防静电装置，用以承载该系统板及该待测元件；及一强度模块连接于该待测元件。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹科学园区研新一路16号 | ||