发明名称 |
用于检测标线设计数据中的缺陷的计算机实现方法 |
摘要 |
提供了用于检测标线设计数据中的缺陷的计算机实现的方法。一种方法包括生成第一模拟图像,它示出了如何用标线制造过程将标线设计数据印制于标线上。该方法还包括用所述第一模拟图像生成第二模拟图像。该第二模拟图像示出了如何以晶片印制过程的一个或多个参数的不同值将标线印制于晶片上。该方法还包括使用所述第二模拟图像检测所述标线设计数据中的缺陷。另一方法包括上述生成步骤,以及按照不同值确定第二模拟图像的特征的变化率。该方法还包括基于变化率检测标线设计数据中的缺陷。 |
申请公布号 |
CN1910516A |
申请公布日期 |
2007.02.07 |
申请号 |
CN200580003027.5 |
申请日期 |
2005.01.31 |
申请人 |
克拉-坦科技术股份有限公司 |
发明人 |
Z·K·塞丁;Y·熊;L·格拉瑟;C·黑斯;M·E·普里尔 |
分类号 |
G03F1/00(2006.01);G03F7/20(2006.01) |
主分类号 |
G03F1/00(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
张政权 |
主权项 |
1.一种用于检测标线设计数据中的缺陷的计算机实现的方法,包括:生成第一模拟图像,它示出了如何用标线制造过程将标线设计数据印制于标线上;用所述第一模拟图像生成第二模拟图像,其中所述第二模拟图像示出了如何以晶片印制过程的一个或多个参数的不同值将标线印制于晶片上;以及使用所述第二模拟图像检测所述标线设计数据中的缺陷。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |