| 发明名称 | 电子元件安装用薄膜载带的外观检测方法及外观检测装置 | ||
| 摘要 | 一种电子元件安装用薄膜载带的外观检测方法及外观检测装置，在用反射光对电子元件安装用薄膜载带的各种外观不良进行检测时，能够找到最佳条件，且迅速进行多种外观不良的检测，不必进行两次、三次的追加检测。检测装置包括：照射相对于电子元件安装用薄膜载带(T)的法线方向的入射角度(β)较大、大致水平方向的光的水平照射装置(34)，照射相对于法线方向的入射角度(α)较小的光的上部照射装置(70)；并且，照射装置(34、70)设置为相对于检测部的光的入射方向可以变换，将从设置在适当位置的两个照射装置(34、70)照射的两种类型的光同时或分别地照射，通过识别其反射光，检测出形成在电子元件安装用薄膜载带(T)的表面的不良。 | ||
| 申请公布号 | CN1908636A | 申请公布日期 | 2007.02.07 |
| 申请号 | CN200610103889.1 | 申请日期 | 2006.08.04 |
| 申请人 | 三井金属矿业株式会社 | 发明人 | 生田一雄 |
| 分类号 | G01N21/95(2006.01);G01R31/308(2006.01);H05K13/08(2006.01) | 主分类号 | G01N21/95(2006.01) |
| 代理机构 | 北京金信立方知识产权代理有限公司 | 代理人 | 黄威;杨小蓉 |
| 主权项 | 1、一种电子元件安装用薄膜载带的外观检测方法，是检测电子元件安装用薄膜载带的外观不良的检测方法，其特征在于，配备有：水平照射装置，照射相对于上述电子元件安装用薄膜载带之法线方向的入射角度β较大并接近于水平方向的光；上部照射装置，照射相对于上述电子元件安装用薄膜载带之法线方向的入射角度α较小的光；并且，上述照射装置设置为，光的相对于检测部的入射方向可以变换；由设置在特定位置的两个照射装置同时或分别照射两种光线，通过识别其反射光，检测形成在上述电子元件安装用薄膜载带的表面上的不良。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||