发明名称 |
集成电路的封装及制造 |
摘要 |
提供了集成电路的装置、封装及制造方法。集成电路包括在含有第一材料的第一衬底上制造的第一类型部件,和在含有第二材料的第二衬底上制造的第二类型部件。第一材料比第二材料具有与第一类型部件的制造和/或性能更好的兼容性,而第二材料比第一材料具有与第二类型部件的制造和/性能更好的兼容性。还描述了一种制造上述集成电路的方法,该方法包括,在其它步骤当中,相互相对地设置第一和第二衬底的步骤,和在所述部件之间建立电连接的步骤。 |
申请公布号 |
CN1910971A |
申请公布日期 |
2007.02.07 |
申请号 |
CN200580002093.0 |
申请日期 |
2005.09.28 |
申请人 |
阿瓦戈科技通用IP(新加坡)股份有限公司 |
发明人 |
K·尼施穆拉;Q·白;T·B·弗霍芬 |
分类号 |
H05K3/00(2006.01);H05K3/20(2006.01);H01L21/44(2006.01);H01L21/48(2006.01);H01L23/02(2006.01);H01L23/48(2006.01);H01L29/40(2006.01) |
主分类号 |
H05K3/00(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
程天正;王忠忠 |
主权项 |
1.一种集成电路(500),包括:第一衬底(510),其具有制造于其上的第一类型的部件,该第一衬底包括第一材料;第二衬底(515),其与第一衬底相对设置,该第二衬底具有制造于其上的第二类型的部件,该第二衬底包括第二材料;和电连接(520),在所述各部件之间,其中:第一材料与第一类型部件的(a)制造和(b)性能中的至少一种具有比第二材料更好的兼容性;和第二材料与第二类型部件的(a)制造和(b)性能中的至少一种具有比第一材料更好的兼容性。 |
地址 |
新加坡新加坡市 |