| 发明名称 | 用于并行成像的线圈灵敏度估计 | ||
| 摘要 | 在MRI系统(40)中的并行或SENSE成像技术中，执行校准扫描以生成校准图像(86)，该标准图像表示也在磁场失真的区域中的并行成像线圈(76a，…，76n)的灵敏度轮廓。这通过使用诸如自旋回波技术的相位再聚焦成像协议，或者通过使用回波时间很短的梯度回波技术来实现。另外，校准扫描和诊断成像扫描的相位编码方向应当匹配。使用诊断扫描协议执行诊断成像扫描以从每个并行成像线圈生成诊断图像表示。SENSE处理器(90)从诊断图像表示和线圈灵敏度轮廓重构最终诊断图像(92)。 | ||
| 申请公布号 | CN1910470A | 申请公布日期 | 2007.02.07 |
| 申请号 | CN200580002497.X | 申请日期 | 2005.01.06 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | A·尼米;J·坦图;M·伊利豪塔拉 |
| 分类号 | G01R33/561(2006.01) | 主分类号 | G01R33/561(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 顾珊;王忠忠 |
| 主权项 | 1.一种改进的线圈灵敏度估计方法，用于减小利用并行成像的MRI装置中的伪像，所述方法包括：对于并行成像序列，使用下述其中之一来执行相对于该并行成像序列的校准序列：自旋回波型序列，其匹配校准的面内相位编码方向和对于每个校准的并行成像序列；和梯度回波型序列，其匹配校准的面内相位编码方向和对于每个校准的并行成像序列。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||