发明名称 原位掺杂之N型射极的掺杂轮廓改良DOPING PROFILE IMPROVEMENT OF IN-SITU DOPED N-TYPE EMITTERS
摘要 本发明系关于一种形成一射极基极接面之方法。该方法包括以下步骤:提供一基极层(26);及使用一包含一组处理气体之气流而于该基极层(26)上生长一掺杂单射极层(28),其中气流包括在该气流之最初几秒内添加至该等处理气体之一锗(Ge)源的添加物。
申请公布号 TW200705553 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW095122804 申请日期 2006.06.23
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 韦伯 丹 伯尔
分类号 H01L21/22(2006.01) 主分类号 H01L21/22(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 荷兰