发明名称 超音波式粒径检测方法与装置
摘要 一种超音波式粒径检测方法与装置,主要包含有一介质、一超音波仪及一中控器。该超音波仪是相对该介质产生超音波脉冲音压。该中控器是可接收前述脉冲音压打到该介质后产生的回波音压,并撷取各回波音压的波强度,及各回波音压回传的时间差,再依据前述波强度与时间差,计算各回波音压的反射系数、衰减系数与音波波速,进而分析悬浮在该介质中微粒子的平均粒径,并输出粒径分析的资料。
申请公布号 TW200704913 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW094125840 申请日期 2005.07.29
申请人 财团法人精密机械研究发展中心 发明人 张立信;张昫扬;陈志豪;简国谕;陈嘉铭
分类号 G01B17/02(2006.01) 主分类号 G01B17/02(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 台中市西屯区工业区三十七路27号