发明名称 测试装置及其方法
摘要 本发明公开了一种改良测试实验的装置和方法,该装置包含了一系统板和一强度模组,系统板内有一待测元件,强度模组则和待测元件连接,强度模组可以提供不同范围的温度和电压给待测元件以进行测试。
申请公布号 TW200704933 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW094125034 申请日期 2005.07.22
申请人 矽统科技股份有限公司 发明人 颜文东
分类号 G01R1/02(2006.01) 主分类号 G01R1/02(2006.01)
代理机构 代理人 陈达仁
主权项
地址 新竹市新竹科学园区研新一路16号