| 主权项 |
1.一种用在自动测试设备之测试架构,其系包括: 一个信号源;以及 复数个测试源/捕获通道,该信号源系耦接到至少 一个该通道以提供一个消除信号,用以减少该通道 所接收之一个信号的振幅。 2.如申请专利范围第1项之架构,其中该信号源系包 括一个数位类比转换器(DAC)。 3.如申请专利范围第1项之架构,其中该系统更系包 括一个耦接于该信号源和该复数个测试源/捕获通 道之间的外部调整元件。 4.如申请专利范围第1项之架构,其中该至少一个测 试源/捕获通道中之至少一个系包括一个捕获类比 数位转换器(ADC),其系能够接收源自一个待测元件 的一个信号。 5.如申请专利范围第4项之架构,其中该至少一个测 试源/捕获通道中之至少一个系更包括一个结合器 ,该结合器系接收一个源自该信号源之消除信号, 接收一个待测信号,并且提供一个源自该消除信号 与该待测信号之残余信号给该ADC。 6.如申请专利范围第4项之架构,其中该至少一个测 试源/捕获通道中之至少一个系更包括: 一个结合器,其系接收一个源自该信号源之消除信 号,接收一个待测信号,并且提供一个源自该消除 信号与该待测信号之输出信号;以及 一个放大器,其系接收源自该结合器之该输出信号 ,并且提供一个输出给该ADC。 7.如申请专利范围第4项之架构,其中该至少一个测 试源/捕获通道中之至少一个系更包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号和一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号;以及 一个第二结合器,其系接收一个源自该信号源之消 除信号,接收该第一结合器输出信号,并且提供一 个第二结合器输出信号给该ADC。 8.如申请专利范围第1项之架构,其中该至少一个测 试源/捕获通道中之至少一个系包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号和一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收一个源自该信号源之消 除信号,接收该第一结合器输出信号,并且提供一 个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 9.如申请专利范围第4项之架构,其中该至少一个测 试源/捕获通道中之至少一个系更包括一个放大器 ,该放大器系接收源自该信号源之一个信号,并且 提供一个输出给一个待测元件。 10.如申请专利范围第4项之架构,其中该至少一个 测试源/捕获通道中之至少一个系更包括一个数位 类比转换器(DAC),以提供一个输出给一个待测元件 。 11.如申请专利范围第1项之架构,其中该架构可操 作在一个第一模式,其中每个通道可设定以执行一 种多重捕获,每个通道系包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收该第一结合器输出信号 ,并且提供一个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 12.如申请专利范围第1项之架构,其中该架构可操 作在一个第二模式,其中该复数个通道中之一个通 道可设定以执行带有信号消除之捕获,该通道系包 括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收一个源自该信号源之消 除信号,接收该第一结合器输出信号,并且提供一 个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 13.如申请专利范围第1项之架构,其中该架构可操 作在一个第三模式,其中该复数个通道之每个通道 可设定以执行带有信号消除之捕获,每个通道系包 括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收一个源自该信号源之消 除信号,接收该第一结合器输出信号,并且提供一 个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 14.如申请专利范围第12项之架构,其中该第二模式 更包括该复数个通道之其余通道被设定以执行一 种多重捕获,每个该其余通道系包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收该第一结合器输出信号 ,并且提供一个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 15.一种用在自动测试设备之可设定之测试架构,其 系包括: 一个信号源;以及 复数个通道,其中该些通道皆可设定成复数个模式 ,每个该模式系提供和另一模式不同之一个准确度 。 16.如申请专利范围第15项之架构,其中该复数个模 式系包括一个第一模式,其中每通道可设定以执行 一种多重捕获,每个通道系包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收该第一结合器输出信号 ,并且提供一个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 17.如申请专利范围第15项之架构,其中该复数个模 式系包括一个第二模式,其中该复数个通道之一个 通道可设定以执行带有信号消除之捕获,该通道系 包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收一个源自该信号源之消 除信号,接收该第一结合器输出信号,并且提供一 个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 18.如申请专利范围第15项之架构,其中该复数个模 式系包括一个第三模式,其中该复数个通道之每个 通道可设定以执行带有信号消除之捕获,每个通道 系包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收一个源自该信号源之消 除信号,接收该第一结合器输出信号,并且提供一 个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 19.如申请专利范围第17项之架构,其中该第二模式 更包括该复数个通道之其余通道被设定以执行一 种多重捕获,每个该剩余通道系包括: 一个第一结合器,其系接收一个待测信号与一个基 准信号,并且提供一个第一结合器输出信号; 一个第二结合器,其系接收该第一结合器输出信号 ,并且提供一个第二结合器输出信号;以及 一个放大器,其系接收该第二结合器输出信号,并 且提供一个残余信号给该ADC。 图式简单说明: 第1图系显示不同的习知技术之测试仪器其关于性 能、成本、和密度的图。 第2图系本发明测试系统的方块图。 第3图系显示本发明不同模式和性能、成本及密度 的关系图。 |
