发明名称 内埋元件之基板制程
摘要 一种内埋元件之基板制程,包括下列之步骤:首先提供一核心层,此核心层是由第一讯号层、第一介电层、第二介电层、第三介电层以及第二讯号层依序堆叠而成,其中第一介电层与第三介电层呈固化态,而第二介电层呈半固化态。然后,于核心层中形成埋孔,并将一至少具有一电极的内埋元件置入埋孔中。之后,压合核心层,使第二介电层填入埋孔中,并且将内埋元件周围表面包覆住。最后,于核心层的上表面以及下表面分别形成第一表面线路层以及第二表面线路层,并且使内埋元件与第一表面线路层电性连接。
申请公布号 TWI272709 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW094117396 申请日期 2005.05.27
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 洪清富;林素玉;薛彬佑
分类号 H01L23/522(2006.01) 主分类号 H01L23/522(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种内埋元件之基板制程,包括: 提供一核心层,该核心层系由一第一讯号层、一第 一介电层、一第二介电层、一第三介电层以及一 第二讯号层依序堆叠而成,其中该第一与第三介电 层呈固化态,而该第二介电层呈半固化态; 形成一埋孔于该核心层中,并放置一内埋元件于该 埋孔中,而该内埋元件具有至少一电极; 配置一第一叠合层于该第一讯号层上,而该第一叠 合层包括一第一金属层以及一第四介电层; 配置一第二叠合层于该第二讯号层上,而该第二叠 合层包括一第二金属层以及一第五介电层; 压合该第一叠合层、该核心层以及该第二叠合层, 以使该第二介电层填入于该埋孔中,并包覆于该内 埋元件之周围表面; 电性导通该内埋元件以及该第一金属层;以及 图案化该第一与第二金属层,以分别形成一第一表 面线路层以及一第二表面线路层。 2.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中提供该核心层之步骤中,包括: 预先图案化位于该第一介电层上之一金属层,以形 成该第一讯号层于该第一介电层上; 预先图案化位于该第三介电层上之另一金属层,以 形成该第二讯号层于该第三介电层上;以及 放置该第二介电层于该第一介电层与该第三介电 层之间,并相互堆叠以形成该核心层。 3.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中形成该埋孔之方式包括机械钻孔或雷射成 孔。 4.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中该埋孔系为一贯孔,其贯穿该第一、第二 与第三介电层。 5.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中该埋孔系为一凹孔,其凹陷于该第一、第 二介电层或该第二与第三介电层。 6.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中该第四与第五介电层呈半固化态。 7.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中电性导通该内埋元件以及该第一金属层之 步骤中,更包括形成多数个镀通孔,其贯穿该第一 叠合层、该核心层以及该第二叠合层,并电性连接 该第一金属层以及该第二金属层。 8.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中导通该内埋元件与该第一金属层之步骤, 包括: 形成至少一钻孔于该核心层,并暴露出该内埋元件 之该电极;以及 形成一导电柱于该钻孔中,以导通该内埋元件与该 第一金属层。 9.如申请专利范围第8项所述之内埋元件之基板制 程,其中形成该钻孔方式包括雷射钻孔。 10.如申请专利范围第8项所述之内埋元件之基板制 程,其中形成该导电柱方式包括电镀。 11.如申请专利范围第1项所述之内埋元件之基板制 程,其中该内埋元件包括主动元件以及被动元件。 图式简单说明: 图1-图10依序绘示为本发明一较佳实施例之一种内 埋元件基板制程图。
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号