发明名称 全像光学储存装置及其储存资料的读取方法
摘要 本发明为一种全像光学储存装置及其储存资料的读取方法。当读取储存材料上的资料时,精确地计算出读取时参考光入射角以及读取时讯号光出射角,并调整参考光的入射方向及光侦测器使得光侦测器可在读取时讯号光出射角方向上获得正确的资料。
申请公布号 TWI272600 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW092122791 申请日期 2003.08.19
申请人 建兴电子科技股份有限公司 发明人 陈赞元
分类号 G11B7/0065(2006.01) 主分类号 G11B7/0065(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种全像光学储存装置中储存资料的读取方法, 包括下列步骤: 当写入一资料至一光聚合物时,记录该光聚合物复 数个方向的长度、一讯号光入射角与一参考光入 射角; 当读取该光聚合物中的该资料时,量测该光聚合物 复数个方向的形变量; 利用记录该光聚合物该些方向的长度、该讯号光 入射角、该参考光入射角、以及该光聚合物该些 方向的形变量,计算出一读取时参考光入射角以及 一读取时讯号光出射角;以及 以该读取时参考光入射角发射一参考光至该光聚 合物,并以该读取时讯号光出射角的方向置入一光 侦测器。 2.如申请专利范围第1项所述之全像光学储存装置 中储存资料的读取方法,其中利用一光源经过一分 光器形成二光束,该二光束其中的一第一光束即为 该参考光。 3.如申请专利范围第2项所述之全像光学储存装置 中储存资料的读取方法,其中该光源系为一雷射。 4.如申请专利范围第2项所述之全像光学储存装置 中储存资料的读取方法,其中该二光束其中之一第 二光束通过一资料平面后即形成该讯号光。 5.如申请专利范围第4项所述之全像光学储存装置 中储存资料的读取方法,其中该资料平面系为一液 晶面板。 6.如申请专利范围第4项所述之全像光学储存装置 中储存资料的读取方法,其中该资料平面系为一微 型反射镜阵列。 7.一种全像光学储存装置,包括: 一光聚合物; 一讯号光,该讯号光系可以一第一入射角照射于该 光聚合物; 一参考光,该参考光系可以一第二入射角照射于该 光聚合物; 一形变侦测单元,该形变侦测单元可侦测该光聚合 物各方向的形变量; 一计算单元,该计算单元根据该光聚合物各方向的 长度、该第一入射角、该第二入射角、以及该光 聚合物各方向的形变量,计算出一读取时参考光入 射角以及一读取时讯号光出射角;以及 一光侦测器,置于该读取时讯号光出射角的方向。 8.如申请专利范围第7项所述之全像光学储存装置, 其中利用一光源经过一分光器形成二光束,该二光 束其中的一第一光束即为该参考光。 9.如申请专利范围第8项所述之全像光学储存装置, 其中该光源系为一雷射。 10.如申请专利范围第8项所述之全像光学储存装置 ,其中该二光束其中之一第二光束通过一资料平面 后即形成该讯号光。 11.如申请专利范围第10项所述之全像光学储存装 置,其中该资料平面系为一液晶面板。 12.如申请专利范围第10项所述之全像光学储存装 置,其中该资料平面系为一微型反射镜阵列。 13.一种全像光学储存装置,包括: 一光聚合物,该光聚合物中记录至少一干涉条纹, 其中该干涉条纹系由一第一入射光与一第二入射 光各别以一第一入射角与一第二入射角照射该光 聚合物所形成; 一形变侦测单元,该形变侦测单元可侦测该光聚合 物各方向的形变量; 一计算单元,该计算单元根据该光聚合物各方向的 长度、该第一入射角、该第二入射角、以及该光 聚合物各方向的形变量,计算出一读取时参考光入 射角以及一读取时讯号光出射角; 一参考光,该参考光系以该读取时参考光入射角照 射于该光聚合物;以及 一光侦测器,置于该读取时讯号光出射角的方向。 图式简单说明: 第1图所绘示为习知全像光学储存装置示意图; 第2(a)、2(b)图为在储存材料内部讯号光、参考光 、以及干涉条纹之间的关系; 第3图所绘示为储存材料变形之后讯号光、参考光 、以及干涉条纹之间的关系; 第4图所绘示为讯号光、参考光在储存材料介面之 间的关系; 第5图所绘示为本发明全像光学储存装置中储存资 料的读取方法;以及 第6图所绘示为本发明全像光学储存装置示意图。
地址 新竹市科学园区笃行路8号