发明名称 转接器方法及用于中介一测试器与一测试中元件之装置
摘要 本发明所提出系为一种固定装置总成(100、102)。该固定装置总成包括一元件总成(102)用于与一测试中元件啮合,以及一测试器界面总成(100)在其之一侧边系与元件总成(102)啮合而在第二侧边系与一测试器啮合。于本发明之方法与装置中,元件总成(102)包括一探针场系针对一测试中元件并可变化用以容纳一不同的元件而不需修改测试器界面总成。测试器界面总成(100)包括一框架(304)用于对正以及结构支撑。框架中介位在一侧边上的探针板(310),以及在另一侧边上的负载板(302)。探针板(310)将复数之探针固持在适当的位置,同时负载板(302)提供复数之孔供探针所用,用以向下延伸穿过负载板(302)。印刷电路板(PCB)(300)系配置在负载板(302)之下方,并与探针之端部接触。整个测试器界面总成(100)系配置在电子测试器之顶部上,并将测试器之接点以元件总成(102)之探针场映像。
申请公布号 TWI272398 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW091123214 申请日期 2002.10.08
申请人 安捷伦科技公司 发明人 强纳生E. 布兹克威斯基;大卫L. 杜梅尔;茱丽L. 史塔梅尔;布雷特W. 汤达森
分类号 G01R31/26(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 1.一种固定装置,其特征在于: 一第一总成(102),其包括一第一探针板,该第一探针 板包括一第一探针图案,该第一探针板包括一排列 成第一探针图案之第一复数探针一第二总成(100), 其系与第一总成(102)配合,该第二总成包括一第二 探针板,第二探针板包括一不同于第一探针图案之 第二探针图案,该第二探针板包括一排列成第二探 针图案之第二复数探针以及; 一位于第一探针板与第二探针板之间的界面,该界 面将第一复数探针重新映像至第二复数探针。 2.一种测试界面总成,其特征在于: 一框架(304),其包括一顶侧及底侧, 一探针板(310),其包括一探针场,探针板相对于框架 (304)之顶侧而配置,探针板(310)在探针场中包覆复 数之探针, 一负载板(302),其系相对于框架(304)之底侧而配置, 其中复数之探针延伸穿过负载板(302),以及 一界面板(300),其系相对于框架(304)之底侧而配置, 界面板(300)与复数之延伸穿过负载板(302)的探针接 触。 3.一种固定装置,其包括: 一第一探针板(214),其系包括一第一探针场,第一探 针板包覆在第一探针场中的第一复数之探针; 一第一框架(210),其系配置在第一探针板(214)之下 方并维持与第一探针板(214)对正; 一第一负载板(208),其系配置在第一框架(210)的下 方,其中第一复数之探针延伸穿过第一负载板(208); 一第一界面板(206),其系包括一顶侧与一底侧,第一 界面板(206)系配置在第一负载板(208)之下方并与位 在第一界面板(206)之顶侧上的第一复数之探针接 触; 一支撑板(200),其系配置在第一界面板(206)的下方, 支撑板(200)支撑该第一探针板(214)、第一框架(210) 、第一负载板(208)与第一界面板(206); 一第二探针板(310),其系配置在支撑板(200)之下方, 第二探针板(310)包括一第二探针场,第二探针板(310 )包覆在第二探针场中的第二复数之探针,第二复 数之探针向上延伸穿过支撑板(200)并与位在第一 界面板(206)之底侧上与第一界面板(206)接触, 第二框架(304),其系配置在第二探针板(310)之下方 并维持与第二探针板(310)对正, 一第二负载板(302),其系包括第二探针场,第二负载 板(302)系配置在第二框架(304)的下方,其中第二复 数之探针延伸穿过第二负载板(302),以及 一第二界面板(300),其系配置在第二负载板(302)之 下方并与第二复数之探针接触。 图式简单说明: 第1图系为根据本发明之讲授内容所执行之固定装 置总成的分解之三维视图。 第2图系为一元件总成的分解之三维视图。 第3图系为一测试器界面总成的分解之三维视图。
地址 美国